Pat
J-GLOBAL ID:200903078196158817
誘電体膜の形成方法
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (6):
深見 久郎
, 森田 俊雄
, 仲村 義平
, 堀井 豊
, 野田 久登
, 酒井 將行
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2005272229
Publication number (International publication number):2007084852
Application date: Sep. 20, 2005
Publication date: Apr. 05, 2007
Summary:
【課題】 電気泳動法を利用した方法により基材の表面上に誘電体膜を形成した場合でも基材端部における誘電体膜の厚膜化を抑制することができる誘電体膜の形成方法を提供する。【解決手段】 誘電体粒子を含む溶媒中に浸漬した基材と電極との間に電圧を印加することによって基材の表面上に誘電体粒子を堆積して誘電体膜を形成する方法であって、誘電体膜の形成期間には、基材に誘電体粒子を堆積させる極性となる第1電圧が基材と電極との間に発生する第1期間と、基材に誘電体粒子を堆積させる極性とは逆極性となる第2電圧が基材と電極との間に発生する第2期間と、が含まれる誘電体膜の形成方法である。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
誘電体粒子を含む溶媒中に浸漬した基材と電極との間に電圧を印加することによって前記基材の表面上に前記誘電体粒子を堆積して誘電体膜を形成する方法であって、
前記誘電体膜の形成期間には、前記基材に前記誘電体粒子を堆積させる極性となる第1電圧が前記基材と前記電極との間に発生する第1期間と、前記基材に前記誘電体粒子を堆積させる極性とは逆極性となる第2電圧が前記基材と前記電極との間に発生する第2期間と、が含まれることを特徴とする、誘電体膜の形成方法。
IPC (2):
FI (2):
C25D13/00 Z
, C25D21/12 A
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1)
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ポリアミド酸溶液
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2002-348161
Applicant:アイエステーコーポレーション
Cited by examiner (10)
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特開平3-154396
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絶縁被覆基板の製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-211535
Applicant:三菱マテリアル株式会社
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電流反転電解法による薄膜回路製造方法ならびにそれを用いた薄膜回路基板、薄膜多層回路基板および電子回路装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-125945
Applicant:株式会社日立製作所
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振動子の製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-242666
Applicant:株式会社村田製作所
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微粒子配列方法および該方法によって製作された微粒子配列装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-283732
Applicant:株式会社リコー
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鉛フリー錫合金めっき方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2002-375604
Applicant:NECセミコンダクターズ九州株式会社
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スルーホールの充填方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2003-328699
Applicant:新光電気工業株式会社
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金属製品の製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-367221
Applicant:住友電気工業株式会社
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強誘電体メモリの製造方法、情報格納方法及び記憶素子
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-371837
Applicant:ソニーインターナショナル(ヨーロッパ)ゲゼルシャフトミットベシュレンクテルハフツング
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特開平3-154396
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