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J-GLOBAL ID:200903079148378828
内部品質評価装置
Inventor:
,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
北村 修一郎
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2003307233
Publication number (International publication number):2004191353
Application date: Aug. 29, 2003
Publication date: Jul. 08, 2004
Summary:
【課題】 2種類の形式の内部品質評価装置を用意することを、全体としての構成の簡素化を図りながら行うことが可能となる内部品質評価装置を提供する。【解決手段】 計測対象箇所に位置する被計測物に対して光を投射する投光部1と、その投光部1から投射されて被計測物を透過した光を分光して計測する受光部2と、受光部2の計測結果に基づいて被計測物の内部品質情報を求める演算処理部3とを備えて構成されている内部品質評価装置であって、投光部1及び受光部2の夫々が、投光用箇所及び受光用箇所の夫々に対して各別に着脱自在に取り付け可能なユニット状に構成されている。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
計測対象箇所に位置する被計測物に対して光を投射する投光部と、その投光部から投射されて前記被計測物を透過した光を分光して計測する受光部と、前記受光部の計測結果に基づいて被計測物の内部品質情報を求める演算処理部とを備えて構成されている内部品質評価装置であって、
前記投光部及び前記受光部の夫々が、投光用箇所及び受光用箇所の夫々に対して各別に着脱自在に取り付け可能なユニット状に構成されている内部品質評価装置。
IPC (2):
FI (2):
G01N21/01 Z
, G01N21/85 A
F-Term (35):
2G051AA05
, 2G051AB20
, 2G051BA02
, 2G051BA06
, 2G051BA08
, 2G051BA20
, 2G051BB09
, 2G051BB11
, 2G051BC01
, 2G051CA03
, 2G051CB02
, 2G051CC11
, 2G051CC17
, 2G051CC20
, 2G051DA06
, 2G051EA08
, 2G051EA09
, 2G059AA01
, 2G059BB11
, 2G059DD12
, 2G059DD13
, 2G059DD16
, 2G059EE01
, 2G059EE12
, 2G059GG03
, 2G059HH01
, 2G059HH02
, 2G059JJ11
, 2G059JJ13
, 2G059JJ14
, 2G059JJ17
, 2G059JJ23
, 2G059KK04
, 2G059MM05
, 2G059NN02
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1)
-
農産物の内部品質評価装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-368681
Applicant:株式会社クボタ
Cited by examiner (8)
-
農産物の内部品質計測装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-374448
Applicant:株式会社クボタ
-
被検出物の変異部検出方法及びその変異部検出装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-356014
Applicant:石井工業株式会社
-
対象物内部品質測定装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-125547
Applicant:三井金属鉱業株式会社
-
分光分析装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-369931
Applicant:株式会社クボタ
-
分光分析装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-163477
Applicant:株式会社クボタ
-
農産物の内部品質計測装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-281929
Applicant:株式会社クボタ
-
青果物の内部品質測定装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-385313
Applicant:財団法人雑賀技術研究所
-
ガス濃度測定装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-047890
Applicant:アンリツ株式会社, 東京瓦斯株式会社
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