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J-GLOBAL ID:200903080058965838

故障検出装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 菊谷 公男 (外2名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1999101166
Publication number (International publication number):2000293201
Application date: Apr. 08, 1999
Publication date: Oct. 20, 2000
Summary:
【要約】【課題】 不完全な短絡が生じた場合もそれを検出可能にする【解決手段】 MOSトランジスタ4を流れる電流をミラーMOSトランジスタ7と検出抵抗8および電圧増幅器9によって検出する。MOSトランジスタ10を流れる電流をミラーMOSトランジスタ10と検出抵抗11および電圧増幅器12によって検出する。L故障検知回路13では、電流検出値を比較して故障内容を判断する。値が同じでなければ電流値の小さい側に不完全な短絡が生じたと判断し、その判断結果に基づいて制御回路1はL負荷5に流れる電流を停止できる。このように故障判断は電流値の比較によって行われるから、検出抵抗をICチップ上の小領域に作れば、抵抗値の相対精度を保ち、上記検出を可能にするとともに、高価な外付け抵抗や検出抵抗のトリミングなしに装置が作れる。
Claim (excerpt):
負荷の一端に直列に接続される第1のスイッチ手段と、前記負荷の他端に直列に接続される第2のスイッチ手段と、前記第1のスイッチ手段及び前記第2のスイッチ手段をオン動作させて、前記負荷を駆動させる制御回路において、前記第1のスイッチ手段を流れる第1電流値を検出する第1電流検出手段と、前記第2のスイッチ手段を流れる第2電流値を検出する第2電流検出手段と、前記第1電流値と前記第2電流値とを比較し、前記負荷または前記第1のスイッチ手段または前記第2のスイッチ手段の故障内容を検出する故障検出手段とを備え、前記第1電流検出手段および前記第2電流検出手段は、それぞれ検出抵抗を持ち、検出抵抗の両端電圧に基づいて前記第1電流値および第2電流値を検出し、少なくとも前記検出抵抗が同一の半導体基板上の近接した領域に形成されることを特徴とする故障検出装置。
IPC (3):
G05B 9/02 ,  F02D 35/00 360 ,  F02D 45/00 390
FI (3):
G05B 9/02 A ,  F02D 35/00 360 J ,  F02D 45/00 390
F-Term (12):
3G084BA05 ,  3G084DA33 ,  3G084EB02 ,  3G084EB22 ,  5H209AA10 ,  5H209BB13 ,  5H209DD05 ,  5H209EE05 ,  5H209FF08 ,  5H209FF09 ,  5H209GG04 ,  5H209HH01
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (8)
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