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J-GLOBAL ID:200903081400567331

歪み計測システム

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (4): 志賀 正武 ,  高橋 詔男 ,  渡邊 隆 ,  青山 正和
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2007006947
Publication number (International publication number):2008175562
Application date: Jan. 16, 2007
Publication date: Jul. 31, 2008
Summary:
【課題】盛替え等を行わずにトンネル覆工コンクリートの長期間挙動を計測することができ、また、覆工コンクリートの中心部や外側面近傍に発生する変状を把握でき、また、変状現象の進行状況を十分に評価することができ、また、トンネル縦断方向の歪みの変化を確実に把握することができ、さらに、材料費を抑えることができる歪み計測システムを提供することを目的とする。【解決手段】光ファイバセンサを用いてトンネルTの覆工コンクリート3の歪みを計測する歪み計測システムにおいて、トンネルTの縦断方向に延在する第1の光ファイバセンサ1...が備えられ、第1の光ファイバセンサ1...が覆工コンクリート3内に埋設されている。【選択図】図1
Claim (excerpt):
光ファイバセンサを用いてトンネルの覆工コンクリートの歪みを計測する歪み計測システムにおいて、 トンネルの縦断方向に延在する第1の光ファイバセンサが備えられ、 該第1の光ファイバセンサが前記覆工コンクリート内に埋設されていることを特徴とする歪み計測システム。
IPC (2):
G01B 11/16 ,  G01D 5/353
FI (2):
G01B11/16 Z ,  G01D5/26 D
F-Term (11):
2F065AA65 ,  2F065CC40 ,  2F065FF33 ,  2F065FF41 ,  2F065LL02 ,  2F065UU03 ,  2F103BA04 ,  2F103BA17 ,  2F103CA06 ,  2F103EC08 ,  2F103GA15
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (6)
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Cited by examiner (7)
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