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J-GLOBAL ID：200903082232934320

雑音スペクトル推定方法、雑音抑圧方法および雑音抑圧装置

Inventor： 風間 道子 ,  東山 三樹夫 ,  平井 徹
Applicant, Patent owner： 学校法人早稲田大学 ,  ヤマハ株式会社
Agent (1)： 加藤 邦彦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004100935
Publication number (International publication number)：2005284163
Application date： Mar. 30, 2004
Publication date： Oct. 13, 2005
Summary：

【課題】雑音が混入した音声信号から、該雑音のスペクトルを推定する新規な方法を提供する。【解決手段】現在観測されている信号区間の観測信号のスペクトルの包絡線と、前回観測された信号区間の観測信号について推定された雑音のスペクトルの包絡線との相関値を求める。該相関値に応じた比率で、現在観測されている信号区間の観測信号のスペクトルと、前回観測された信号区間の観測信号について推定された雑音のスペクトルとを加算混合する。すなわち、相関値が高いときは相関値が低いときに比べて、現在観測されている信号区間の観測信号のスペクトルの混合比率を相対的に高くし、前回観測された信号区間の観測信号について推定された雑音のスペクトルの混合比率を相対的に低くする。加算混合されたスペクトルを現在観測されている信号区間の観測信号に含まれる雑音のスペクトルとして推定する。【選択図】 図1

Claim (excerpt)：

雑音が混入した音声信号から、該雑音のスペクトルを推定する方法であって、 現在観測されている信号区間の観測信号のスペクトルの包絡線と、前回観測された信号区間の観測信号について推定された雑音のスペクトルの包絡線との相関を求め、該求められた相関に応じて前記現在観測されている信号区間の観測信号について雑音のスペクトルを推定する雑音スペクトル推定方法。

IPC (3)：

G10L21/02 ,  G10L11/00 ,  G10L15/20

FI (3)：

G10L9/08 F ,  G10L3/02 301D ,  G10L9/08 E

F-Term (1)：

5D015EE05

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (3)

• ノイズ除去装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平9-154965   Applicant：株式会社神戸製鋼所
• 音声認識装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2000-197744   Applicant：株式会社豊田中央研究所
• 音声認識方法及び音声認識装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2002-020303   Applicant：株式会社豊田中央研究所

Cited by examiner (3)

• ノイズ削減装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-178484   Applicant：松下電器産業株式会社
• 雑音抑圧装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平11-319126   Applicant：三菱電機株式会社
• 背景雑音除去装置及び音声認識装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-252854   Applicant：沖電気工業株式会社