表面プラズモンセンサー

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：柳田征史 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998362030
Publication number (International publication number)：2000180353
Application date： Dec. 21, 1998
Publication date： Jun. 30, 2000
Summary：

【要約】【課題】表面プラズモンセンサーにおいて、試料が傾いていたり、プリズムあるいは金属膜に歪や屈折率変動が存在しても、正しく試料分析できるようにする。【解決手段】プリズム10と、その一面に形成されて試料11に接触させられる金属膜12と、光ビーム13を発生させる光源14と、光ビーム13をプリズム10に通し、プリズム10と金属膜12との界面に対して種々の入射角が得られるように入射させる光学系15と、上記界面で全反射した光ビーム13を検出する第1の光検出手段18とを備えてなる表面プラズモンセンサーにおいて、プリズム面10aで反射した光ビーム13の強度を第2の光検出手段19によって検出する。そしてパーソナルコンピュータ21により、第1の光検出手段18の出力に基づいて光ビーム13の全反射解消角を求め、第2の光検出手段19の出力に基づいて光ビーム13の臨界角を求める。

Claim (excerpt)：

誘電体と、この誘電体の一面に形成されて、試料に接触させられる金属膜と、第1の光ビームを発生させる第1の光源と、この第1の光ビームを前記誘電体に通し、該誘電体と前記金属膜との界面に対して、種々の入射角が得られるように入射させる第1の光学系と、前記界面で全反射した第1の光ビームの強度を、その前記種々の入射角毎に検出可能な第1の光検出手段と、第2の光ビームを発生させる第2の光源と、この第2の光ビームを前記誘電体に通し、該誘電体の前記一面に対して、種々の入射角が得られるように入射させる第2の光学系と、前記誘電体の一面で正反射した第2の光ビームの強度を、その前記種々の入射角毎に検出可能な第2の光検出手段と、前記第1の光検出手段の出力に基づいて、前記第1の光ビームに関する全反射解消角を求める手段と、前記第2の光検出手段の出力に基づいて、前記第2の光ビームに関する臨界角を求める手段とを備えてなる表面プラズモンセンサー。

F-Term (9)：

2G059AA01 , 2G059EE02 , 2G059EE04 , 2G059GG04 , 2G059JJ11 , 2G059JJ12 , 2G059KK04 , 2G059MM09 , 2G059MM10

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (5)

生体分子検出方法および装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平4-173772 Applicant：ヒューレット・パッカード・カンパニー
減衰全反射型薄膜評価装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平5-074627 Applicant：ソニー株式会社
集積化されたセンサおよび生化学的サンプルを検出する方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平9-268770 Applicant：テキサスインスツルメンツインコーポレイテツド

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Cited by examiner (5)

生体分子検出方法および装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平4-173772 Applicant：ヒューレット・パッカード・カンパニー
減衰全反射型薄膜評価装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平5-074627 Applicant：ソニー株式会社
集積化されたセンサおよび生化学的サンプルを検出する方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平9-268770 Applicant：テキサスインスツルメンツインコーポレイテツド

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