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J-GLOBAL ID:200903083117873453

半導体装置とその製法および配線テープ

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 高橋 明夫 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1997328520
Publication number (International publication number):1999163203
Application date: Nov. 28, 1997
Publication date: Jun. 18, 1999
Summary:
【要約】【課題】実装信頼性および量産性に優れた半導体装置の提供にある。【解決手段】半導体装置と実装基板との熱応力を緩和するために、半導体チップ1と配線基板3との間に、通気性を有する多孔質体のコア層6の両面に接着層5を設けた緩衝層2を介在させ、該緩衝層2により実装リフロー時のガスを外部に放出できるように構成した半導体装置にある。
Claim (excerpt):
半導体チップと、外部接続端子である電極を有する配線基板を有し、前記半導体チップと前記配線基板との間に設けられた通気性を有する多孔質体が、半導体装置内に含まれるガスを多孔質体を通して外部に放出できるよう構成されていることを特徴とする半導体装置。
FI (2):
H01L 23/12 L ,  H01L 23/12 Z
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (7)
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