顕微鏡、顕微鏡の制御方法、及び顕微鏡の制御プログラム

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (2)：木村満 , 毛受隆典
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2006100441
Publication number (International publication number)：2007272117
Application date： Mar. 31, 2006
Publication date： Oct. 18, 2007
Summary：

【課題】観察画像上の試料の位置ずれ補正を速やかに行える顕微鏡、及び観察画像上の試料の位置ずれを速やかに補正する補正方法を提供する。【解決手段】顕微鏡100の制御装置40は、電源ON信号を受けて、撮像装置80を用いて試料ステージ30の試料を撮像し、複数のターゲット枠を設定する。そして、検者により、そのなかの1つのターゲット枠が設定されるとその頂点座標を記憶する。その後、対物レンズ20の倍率が変更されると、制御装置40は、その拡大画像を撮像し、拡大されたターゲット枠の頂点座標を記憶する。そして、制御装置40は、拡大前のターゲット枠周辺以外の領域をマスキングし、さらに拡大した画像を縮小する。その後、縮小した画像をパターンマッチングして最大マッチング位置を特定する。そして、その位置から、座標原点の移動量を求めて、X軸ステージ31と、Y軸ステージ32とを移動させることにより、位置ずれを補正する。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

試料を載置するステージと複数の対物レンズを備え、該対物レンズを変更することにより、前記試料の観察倍率を変更できる顕微鏡であって、第1の対物レンズを用いて、前記試料の第1の画像を撮像する第1撮像手段と、前記第1の対物レンズが、該第1の対物レンズよりも倍率がk(kは1以上の実数)倍の第2の対物レンズに変更された後、前記試料の第2の画像を撮像する第2撮像手段と、前記第2撮像手段により撮像された前記第2の画像を1/k倍に縮小した第3の画像を生成する縮小手段と、前記第1撮像手段により撮像された前記第1の画像と前記縮小手段により生成された前記第3の画像との相関をとることにより、前記第1の画像上の前記第3の画像の位置を求め、この前記第3の画像の位置から、前記第1の画像の撮像位置に対する前記第2の画像の撮像位置の相対的なずれ量を求めるずれ量判別手段と、前記ずれ量判別手段で判別されたずれ量をキャンセルするように、前記ステージと前記第2の対物レンズとの相対的位置を補正する位置補正手段と、を備えることを特徴とする顕微鏡。

IPC (2)：

G02B 21/36 , G02B 21/00

FI (2)：

G02B21/36 , G02B21/00

F-Term (3)：

2H052AF14 , 2H052AF21 , 2H052AF25

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (6)

特許第3429515号公報
芯ずれ補正装置及びその方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2003-056214 Applicant：オリンパス株式会社
画像処理装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2003-134732 Applicant：オリンパス株式会社

Show all

Cited by examiner (5)

芯ずれ補正装置及びその方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2003-056214 Applicant：オリンパス株式会社
画像処理装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2003-134732 Applicant：オリンパス株式会社
顕微鏡観察画像取得方法および顕微鏡システム
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2004-200892 Applicant：株式会社ニコン

Show all

Return to Previous Page