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J-GLOBAL ID:200903084158578098

シート状材料の表面欠陥検査方法及び表面欠陥検査装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 中井 宏行
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2000011996
Publication number (International publication number):2001201455
Application date: Jan. 20, 2000
Publication date: Jul. 27, 2001
Summary:
【要約】【課題】検査精度が高いシート状材料の表面欠陥検査方法を提供する。【解決手段】シート状材料の表面に対し、所定範囲内の角度から光を照射し、その反射光を撮像した画像と、シート状材料の表面の上方から光を照射し、その反射光を上方から撮影した画像とを基にして、シート状材料表面の凹凸不良を検出する。
Claim (excerpt):
シート状材料の表面に対し、所定範囲内の角度から光を照射し、その反射光を撮像した画像と、上記シート状材料の表面の上方から光を照射し、その反射光を上方から撮影した画像とを基にして、上記シート状材料表面の凹凸不良を検出することを特徴とするシート状材料の表面欠陥検査方法。
IPC (2):
G01N 21/892 ,  G01B 11/30
FI (2):
G01N 21/892 B ,  G01B 11/30 A
F-Term (52):
2F065AA03 ,  2F065AA17 ,  2F065AA49 ,  2F065AA51 ,  2F065BB13 ,  2F065BB15 ,  2F065CC02 ,  2F065CC06 ,  2F065EE00 ,  2F065EE04 ,  2F065FF42 ,  2F065FF44 ,  2F065FF61 ,  2F065FF67 ,  2F065HH12 ,  2F065HH13 ,  2F065HH14 ,  2F065JJ01 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ05 ,  2F065JJ08 ,  2F065JJ09 ,  2F065JJ19 ,  2F065LL00 ,  2F065NN11 ,  2F065NN16 ,  2F065NN17 ,  2F065PP16 ,  2F065QQ03 ,  2F065QQ06 ,  2F065QQ13 ,  2F065QQ21 ,  2F065QQ23 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ26 ,  2F065QQ28 ,  2F065QQ29 ,  2G051AA37 ,  2G051AB07 ,  2G051BA01 ,  2G051BB01 ,  2G051CA03 ,  2G051CA04 ,  2G051CA07 ,  2G051CB01 ,  2G051DA01 ,  2G051DA06 ,  2G051EA08 ,  2G051EA11 ,  2G051EA14 ,  2G051EB01
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (8)
  • 特開昭61-228332
  • 特開昭61-091547
  • 支持体表面検査装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平8-054383   Applicant:日立電子株式会社, コニカ株式会社
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Cited by examiner (8)
  • 特開昭61-228332
  • 特開昭61-091547
  • 支持体表面検査装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平8-054383   Applicant:日立電子株式会社, コニカ株式会社
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