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J-GLOBAL ID:200903084746389978
X線検査装置
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
,
Agent (1):
小野 由己男 (外2名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2000335213
Publication number (International publication number):2002098652
Application date: Sep. 26, 2000
Publication date: Apr. 05, 2002
Summary:
【要約】【課題】 記録必要と判断された物品の処理時において画像データを容易に参照できるX線検査装置を提供する。【解決手段】 X線検査装置は、連続搬送される物品の画像データをX線源及びX線ラインセンサにより得て、その得られた画像データによって物品の不良検査を行う装置である。このX線検査装置は、画像データファイル26を有するHDD25を備えており、物品不良と判断された複数の物品の画像データを、自動的に画像データファイル26に記憶させる。
Claim (excerpt):
連続搬送される物品の画像データをX線源及びX線ラインセンサにより得て、その得られた画像データによって物品の状態を検査するX線検査装置であって、連続搬送される物品の画像データのうち、記録が必要なものを自動的に判断する記録判断手段と、前記記録判断手段によって記録必要と判断された物品の前記画像データを、自動的に記憶部に記憶させる画像データ記憶手段とを備えたX線検査装置。
F-Term (16):
2G001AA01
, 2G001AA07
, 2G001BA11
, 2G001CA01
, 2G001CA07
, 2G001DA08
, 2G001FA06
, 2G001GA01
, 2G001HA01
, 2G001HA13
, 2G001JA09
, 2G001JA11
, 2G001JA13
, 2G001KA03
, 2G001PA11
, 2G001SA14
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (7)
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X線検査装置およびX線検査補修装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-097796
Applicant:株式会社東芝
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X線荷物検査装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-345606
Applicant:株式会社日立メディコ
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放射線検査装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-108052
Applicant:東芝エフエーシステムエンジニアリング株式会社
-
X線異物検出装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-292136
Applicant:株式会社イシダ
-
特開平1-250856
-
欠陥検出装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-280980
Applicant:東芝エンジニアリング株式会社
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表面欠陥検査装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-240118
Applicant:住友金属工業株式会社
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