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J-GLOBAL ID:200903086136632644
被検体内断層イメージング装置
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
Agent (1):
伊藤 進
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1997233000
Publication number (International publication number):1999056752
Application date: Aug. 28, 1997
Publication date: Mar. 02, 1999
Summary:
【要約】【課題】 被検体の表面近傍の深度では高分解能で、かつ到達深度における奥行きのある断層像を得ることでき、適切かつ効果的な被検体断層観察を行う。【解決手段】 被検体内断層イメージング装置1は、細長で可撓性を有する体腔内に挿入される外シース2に覆われ低干渉光及び超音波により3次元画像信号を得る挿入プローブ3と、低干渉性の光を発生して挿入プローブ3側に導光し体腔内の患部側からの反射光を測定光として参照光と干渉させて検出する光断層像信号検出装置4と、光断層像信号検出装置4により検出された干渉信号に対する信号処理等を行うと共に挿入プローブ3の先端部に配置された超音波振動子5を駆動し超音波エコー信号を信号処理する信号処理装置6と、信号処理装置6から出力される映像信号を表示するモニタ7とから構成される。
Claim (excerpt):
低干渉光を発生する光源と、被検体に前記低干渉光を出射すると共に、前記被検体より反射された反射光を検出するための1つのシングルモードファイバからなる導光手段と、前記シングルモードファイバより出射した前記低干渉光を走査出射する走査出射手段と、前記シングルモードファイバで検出した前記被検体からの前記反射光と前記光源より生成した基準光とを干渉させて、干渉した干渉光に対応する干渉信号を抽出する干渉光抽出手段と、前記走査出射手段より出射する前記低干渉光と同方向に超音波を出射及び前記被検体より反射してきた超音波エコーを検出する超音波振動子と、前記超音波振動子を駆動するための駆動パルスを発生するパルス発生手段と、前記超音波振動子により検出した前記超音波エコーを受信する受信手段と、前記干渉信号と前記超音波エコーに対して信号処理を行い、少なくとも前記被検体の深部方向の断層像を構築する信号処理手段とを備えたことを特徴とする被検体内断層イメージング装置。
IPC (6):
A61B 1/00 300
, A61B 8/12
, G01B 9/02
, G01B 11/00
, G01B 17/00
, G01N 21/17
FI (6):
A61B 1/00 300 F
, A61B 8/12
, G01B 9/02
, G01B 11/00 G
, G01B 17/00 Z
, G01N 21/17 A
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (8)
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光断層イメージング装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-309076
Applicant:オリンパス光学工業株式会社
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光断層イメージング装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-319850
Applicant:オリンパス光学工業株式会社
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超音波診断治療システム
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-024516
Applicant:オリンパス光学工業株式会社
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超音波診断装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-190938
Applicant:オリンパス光学工業株式会社
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MR内視鏡装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-171231
Applicant:オリンパス光学工業株式会社
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光診断装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-319849
Applicant:オリンパス光学工業株式会社
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空間差分を用いた光断層イメージング装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平3-299020
Applicant:オリンパス光学工業株式会社
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光ファイバ撮像ガイドワイヤ、カテーテルまたは内視鏡を用いて光学測定を行う方法および装置
Gazette classification:公表公報
Application number:特願平9-531100
Applicant:マサチューセッツインスティテュートオブテクノロジー
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