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J-GLOBAL ID：200903086366003891

分布型歪計測装置

Inventor： 山浦 剛俊 ,  開 登喜雄 ,  塚野 正純 ,  井上 好章 ,  杉村 忠士
Applicant, Patent owner： 三菱重工業株式会社
Agent (1)： 鈴江 武彦 (外3名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997358391
Publication number (International publication number)：1999183135
Application date： Dec. 25, 1997
Publication date： Jul. 09, 1999
Summary：

【要約】【課題】光パルスの長さに関係なく、計測対象の位置に対応した歪を高い分解能にて計測できる分布型歪計測装置を提供すること。【解決手段】計測対象(2)からの後方散乱光の戻り時間の情報から得られる前記計測対象(2)の各位置の後方散乱光のスペクトルから、ブリルアン周波数シフトと後方散乱光の強度との関係を求める手段(5)と、この手段(5)で求められた関係において、スペクトルを有する位置を一つ以上検出し、前記スペクトルと前記位置の周辺の複数のスペクトルとの関係から、各位置での歪量を求める手段(5)と、を具備。

Claim (excerpt)：

計測対象からの後方散乱光の戻り時間の情報から得られる前記計測対象の各位置の後方散乱光のスペクトルから、ブリルアン周波数シフトと後方散乱光の強度との関係を求める手段と、この手段で求められた関係において、スペクトルを有する位置を一つ以上検出し、前記スペクトルと前記位置の周辺の複数のスペクトルとの関係から、各位置での歪量を求める手段と、を具備したことを特徴とする分布型歪計測装置。

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (4)

• 光パルス試験器
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-041177   Applicant：日本電信電話株式会社
• スペクトル分解方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-198155   Applicant：株式会社日立製作所, 株式会社日立メディコ
• 光ファイバ歪分布測定装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-140393   Applicant：日立電線株式会社
• 光ケーブルの異常検知方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-240812   Applicant：日本電信電話株式会社