光パルス試験装置

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：鈴江武彦 (外5名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001282139
Publication number (International publication number)：2003090779
Application date： Sep. 17, 2001
Publication date： Mar. 28, 2003
Summary：

【要約】【課題】後方散乱光の測定精度を向上させる。【解決手段】光パルスaを測定対象光ファイバ4へ入射して、この測定対象光ファイバから出射される後方散乱光bを受光器5で受光して電気信号cに変換し後方散乱光の特性Pを得る光パルス試験装置において、受光器から光パルスの出射時刻からの時間経過とともに出力される電気信号における各経過時間の測定値を記憶する測定値メモリ15と、各経過時間における受光器の裾引き電流に相当する補正値Rを、該当経過時間における測定値と一つ先の経過時間における補正値とに基づいて算出する補正値算出手段22と、測定値メモリに記憶された各経過時間における測定値Dから、算出された各経過時間における補正値Rを減算して、各経過時間における後方散乱光の特性値Pを算出する特性値算出手段23とを備えている。

Claim (excerpt)：

光源部(1)から出射された光パルス(a)を光分岐器(3)を介して測定対象光ファイバ(4)へ入射して、この測定対象光ファイバから出射される後方散乱光(b)を前記光分岐器を介して受光器(5)で受光して電気信号(c)に変換し、この変換された電気信号から前記後方散乱光の特性(P)を得る光パルス試験装置において、前記受光器から前記光パルスの出射時刻からの時間経過とともに出力される電気信号における各経過時間(t)の測定値を記憶する測定値メモリ(15)と、前記各経過時間における前記受光器の裾引き電流に相当する補正値(R)を、該当経過時間における測定値(D)と一つ先の経過時間における補正値(R)とに基づいて算出する補正値算出手段(22)と、前記測定値メモリに記憶された各経過時間における測定値から、前記算出された各経過時間における補正値を減算して、各経過時間における前記後方散乱光の特性値(P)を算出する特性値算出手段(23)とを備えた光パルス試験装置。

F-Term (1)：

2G086CC03

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (4)

光ファイバの試験方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平9-081426 Applicant：安藤電気株式会社
特開昭57-122340
光パルス試験器
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平4-320637 Applicant：アンリツ株式会社

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Cited by examiner (3)

特開昭57-122340
光ファイバの試験方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平9-081426 Applicant：安藤電気株式会社
光パルス試験器
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平4-320637 Applicant：アンリツ株式会社

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