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J-GLOBAL ID:200903087381939913

白金族金属層の形成方法及びこれを用いたキャパシタ製造方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 志賀 正武 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1998053764
Publication number (International publication number):1998303397
Application date: Mar. 05, 1998
Publication date: Nov. 13, 1998
Summary:
【要約】【課題】 開口部を充填する白金族金属層形成方法と、これをキャパシタ製造に適用して、酸素拡散により発生されるストレージ電極の接触不良が防止され、ストレージ電極形成が容易であるキャパシタ製造方法を提供する。【解決手段】 ストレージコンタクトホールのような開口部43が形成された半導体基板40上に、白金族金属層44を約1000オングストローム〜2000オングストローム程度の厚さで形成する。この白金族金属層44に約650°C以上の熱を加えてリフローさせることによって開口部43を充填する。
Claim (excerpt):
半導体の基板上に物質層を形成する段階と、前記物質層の所定部位を蝕刻して開口部を形成する段階と、開口部が形成された前記基板全面に白金族金属を蒸着する段階と、前記白金族金属を650°C以上の温度に加熱して前記開口部を充填するようにリフローさせる段階を具備することを特徴とする白金族金属層の形成方法。
IPC (7):
H01L 27/108 ,  H01L 21/8242 ,  C23C 14/14 ,  C23C 14/58 ,  H01L 21/28 301 ,  H01L 27/04 ,  H01L 21/822
FI (5):
H01L 27/10 621 B ,  C23C 14/14 D ,  C23C 14/58 A ,  H01L 21/28 301 R ,  H01L 27/04 C
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (9)
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