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J-GLOBAL ID:200903087381939913
白金族金属層の形成方法及びこれを用いたキャパシタ製造方法
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
Agent (1):
志賀 正武 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1998053764
Publication number (International publication number):1998303397
Application date: Mar. 05, 1998
Publication date: Nov. 13, 1998
Summary:
【要約】【課題】 開口部を充填する白金族金属層形成方法と、これをキャパシタ製造に適用して、酸素拡散により発生されるストレージ電極の接触不良が防止され、ストレージ電極形成が容易であるキャパシタ製造方法を提供する。【解決手段】 ストレージコンタクトホールのような開口部43が形成された半導体基板40上に、白金族金属層44を約1000オングストローム〜2000オングストローム程度の厚さで形成する。この白金族金属層44に約650°C以上の熱を加えてリフローさせることによって開口部43を充填する。
Claim (excerpt):
半導体の基板上に物質層を形成する段階と、前記物質層の所定部位を蝕刻して開口部を形成する段階と、開口部が形成された前記基板全面に白金族金属を蒸着する段階と、前記白金族金属を650°C以上の温度に加熱して前記開口部を充填するようにリフローさせる段階を具備することを特徴とする白金族金属層の形成方法。
IPC (7):
H01L 27/108
, H01L 21/8242
, C23C 14/14
, C23C 14/58
, H01L 21/28 301
, H01L 27/04
, H01L 21/822
FI (5):
H01L 27/10 621 B
, C23C 14/14 D
, C23C 14/58 A
, H01L 21/28 301 R
, H01L 27/04 C
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (9)
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半導体装置及びその製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-305882
Applicant:株式会社日立製作所
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薄膜キャパシタ及びその製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-122636
Applicant:日本電気株式会社
-
マイクロ電子構造体とその製造法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-196834
Applicant:テキサスインスツルメンツインコーポレイテツド, カリフォルニアインスティチュートオブテクノロジー
-
半導体装置のキャパシタ及びその製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-244342
Applicant:三星電子株式会社
-
強誘電体キャパシタ製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-203401
Applicant:三星電子株式会社
-
半導体装置の製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-222776
Applicant:株式会社東芝
-
半導体集積回路装置およびその製造方法ならびにそれに用いる製造装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-136253
Applicant:株式会社日立製作所
-
半導体装置の製造方法および半導体製造装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-026794
Applicant:ヤマハ株式会社
-
半導体装置の製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-009826
Applicant:広島日本電気株式会社
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