光散乱測定装置

Inventor： , , , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：特許業務法人原謙三国際特許事務所
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2005253791
Publication number (International publication number)：2006275998
Application date： Sep. 01, 2005
Publication date： Oct. 12, 2006
Summary：

【課題】試料からの微弱な散乱光を、超小角領域まで精度よく検出できる光散乱測定装置を提供する。【解決手段】レーザー光源11と、レーザー光源11からの光を集光する第1のレンズ12と、ピンホールdを有するピンホール板13と、第1のレンズ12からピンホールdを介して入射した光を平行光にする第2のレンズ14と、第2のレンズ14から入射した平行光を検出器17の検出面に備えられたビームストッパー16で焦点を結ぶように集光する第3のレンズ15とを設ける。また、ピンホールdとビームストッパー16とを光学的に共役な位置に配置する。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

光源から照射した光を試料に入射させたときに生じる当該試料からの散乱光を測定する光散乱測定装置であって、上記光源から照射される光を集光する第1の集光手段と、上記光源から照射される光の平行成分を通過させる微小開口を有し、上記光源から照射される光の非平行成分を遮光する収束手段と、上記収束手段を通過した光を集光する第2の集光手段と、上記第2の集光手段によって集光される光を試料に入射させたときに生じる当該試料からの散乱光を検出する検出手段と、を備え、上記収束手段と上記検出器の検出面とが光学的に共役な位置に配置されていることを特徴とする光散乱測定装置。

IPC (2)：

G01N 21/49 , G01N 23/201

FI (2)：

G01N21/49 Z , G01N23/201

F-Term (40)：

2G001AA01 , 2G001AA04 , 2G001AA07 , 2G001AA10 , 2G001BA11 , 2G001BA14 , 2G001CA01 , 2G001CA04 , 2G001CA07 , 2G001CA10 , 2G001DA09 , 2G001EA06 , 2G001GA01 , 2G001GA06 , 2G001KA12 , 2G001LA01 , 2G001LA20 , 2G001MA02 , 2G001MA05 , 2G001RA03 , 2G001SA04 , 2G001SA10 , 2G001SA30 , 2G059AA03 , 2G059BB04 , 2G059BB10 , 2G059BB12 , 2G059BB20 , 2G059DD16 , 2G059EE01 , 2G059EE02 , 2G059EE12 , 2G059FF05 , 2G059GG01 , 2G059HH02 , 2G059HH05 , 2G059JJ11 , 2G059JJ25 , 2G059JJ30 , 2G059KK04

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

光学ユニット
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平11-031045 Applicant：三菱化学株式会社

Cited by examiner (10)

特開平4-044196
アレルゲン検出システムおよび検出方法
Gazette classification：公表公報 Application number：特願平11-507406 Applicant：ハンバーガーロバートエヌ.
レーザ回折・散乱式粒度分布測定装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2000-237492 Applicant：株式会社島津製作所

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