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J-GLOBAL ID:200903088333608537

反射防止膜材料

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 小島 隆司
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1993088202
Publication number (International publication number):1994273926
Application date: Mar. 23, 1993
Publication date: Sep. 30, 1994
Summary:
【要約】【目的】 微細で寸法精度及び合わせ精度が高い上、簡便な工程で生産性及び再現性良く、しかも環境面での問題もなく、半導体集積回路の製造時においてフォトリソグラフィーのレジストパターン形成を可能にし得る反射防止膜材料を提供する。【構成】 下記一般式(1)で示されるパーフルオロアルキルスルホン酸アンモニウム塩又は下記一般式(2)で示されるパーフルオロアルキルカルボン酸アンモニウム塩と少なくとも一種類の水溶性樹脂とを配合する。【化1】(式中、Rは水素原子又はアルキル基であり、nは1〜20の整数である。)
Claim (excerpt):
下記一般式(1)で示されるパーフルオロアルキルスルホン酸アンモニウム塩又は下記一般式(2)で示されるパーフルオロアルキルカルボン酸アンモニウム塩と少なくとも一種類の水溶性樹脂とを含有してなることを特徴とする反射防止膜材料。【化1】(式中、Rは水素原子又はアルキル基であり、nは1〜20の整数である。)
IPC (6):
G03F 7/004 506 ,  G03F 7/004 504 ,  C07C219/06 ,  C07C309/76 ,  G03F 7/11 502 ,  H01L 21/027
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)

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