粒子測定装置

Inventor： ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：野河信太郎
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000098446
Publication number (International publication number)：2001281128
Application date： Mar. 31, 2000
Publication date： Oct. 10, 2001
Summary：

【要約】【課題】粒度ヒストグラムなどの粒子の分布グラフを実時間表示することのできる粒子測定装置を提供する。【解決手段】粒子測定装置Dは、測定装置本体1とノートパソコン2とを備えてなる。測定装置本体1はさらに、測定出力部11、分布データ作成記憶部12、通信IF回路13及び制御部14を備えてなり、ノートパソコン2は表示部21を備えてなる。測定出力部11は、電気抵抗検出部111と信号処理部112とからなる。分布データ作成記憶部12は、測定出力部11における信号処理部112で得られた粒子の大きさを表す値を、メモリ114の番地に対応させ、その番地の内容をインクリメントするための頻度データ作成回路113を備えている。通信IF回路13は、前記の分布データを高速でノートパソコン2に送信するためのものである。

Claim (excerpt)：

測定用試料における粒子の特徴パラメータを測定しその測定結果を出力信号として出力するための測定出力部と、この測定出力部からの出力信号に基づいて分布データを作成し一時記憶する回路及びメモリを有する分布データ作成記憶部と、この分布データ作成記憶部で得られた分布データをパソコンへ伝送するための通信IF回路と、パソコンに設けられ、分布グラフを表示するための表示部と、試料測定中に、その時までに得られた分布データを定期的にパソコンへ伝送するように通信IF回路に指示し、かつ、測定途中結果としての分布グラフを繰り返し更新表示するように表示部に指示する制御部とを備えてなる粒子測定装置。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (5)

特開昭62-175645
レーザ回折式粒度分布測定方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平4-299292 Applicant：株式会社堀場製作所
粒子センサーおよびそれに関連する改良された粒子識別方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平10-334057 Applicant：ヴェンチュアダイン,リミテッド

Show all

Return to Previous Page