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J-GLOBAL ID：200903092365183586

三次元画像取得装置

Inventor： 林 徹 ,  石坂 昭三
Applicant, Patent owner： 株式会社林創研
Agent (1)： 中野 佳直
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2008110769
Publication number (International publication number)：2009264752
Application date： Apr. 21, 2008
Publication date： Nov. 12, 2009
Summary：

【課題】透明に近い細胞などの生体材料を非染色状態で試料とし、コントラストの低い試料を可視化する顕微鏡などの観察装置に最適な三次元画像取得装置およびその方法とこれを利用した加工装置の提供。【解決手段】試料空間内の計測点に集光する光束を照射し、透過光量を計測する。透過光信号と参照信号から微弱な光吸収量を測定する。三次元走査しながら光吸収量を立体画素とする三次元マップを得る。この三次元マップに、計測点付近の光強度分布像をコンボリューション・カーネルとするデコンボリューション処理を行ない、非染色状態で透明に近い試料の三次元画像を得る。【選択図】図4

Claim (excerpt)：

透明に近い生体材料を試料とし、試料透過光の減衰量から立体像を得る三次元画像取得装置であって、 光束を射出する光源と、 前記光束を試料中の計測点に集光し、前記計測点付近に局所的光強度三次元分布を生成する手段と、 前記試料と前記計測点とを相対的に三次元走査する手段と、 前記試料の光透過量から前記光束の光減衰量を計測する手段と、 走査する計測点の位置座標に対応した前記光減衰量の三次元マップを作成する手段と、 前記計測点付近の局所的光強度三次元分布像から得られたコンボリューション・カーネルを用いたデコンボリューション、またはコンボリューション・カーネルを初期設定しないブラインドデコンボリューションのいずれかによって、前記三次元マップから試料の立体像を作成する手段と、 からなることを特徴とする三次元画像取得装置。

IPC (7)：

G01B 11/24 ,  G02B 21/00 ,  H04N 13/02 ,  G02B 21/36 ,  G06T 1/00 ,  G06T 5/20 ,  G01N 21/17

FI (8)：

G01B11/24 Z ,  G02B21/00 ,  H04N13/02 ,  G02B21/36 ,  G06T1/00 295 ,  G06T1/00 315 ,  G06T5/20 B ,  G01N21/17 A

F-Term (75)：

2F065AA52 ,  2F065AA53 ,  2F065BB05 ,  2F065BB22 ,  2F065CC16 ,  2F065FF46 ,  2F065GG02 ,  2F065GG03 ,  2F065HH04 ,  2F065HH15 ,  2F065LL12 ,  2F065LL13 ,  2F065LL15 ,  2F065LL46 ,  2F065LL62 ,  2F065MM03 ,  2F065MM16 ,  2F065NN01 ,  2F065PP12 ,  2F065QQ00 ,  2F065QQ14 ,  2F065QQ17 ,  2F065QQ32 ,  2F065SS02 ,  2G059AA05 ,  2G059BB12 ,  2G059CC16 ,  2G059DD12 ,  2G059DD13 ,  2G059EE01 ,  2G059FF02 ,  2G059GG01 ,  2G059GG02 ,  2G059GG06 ,  2G059HH02 ,  2G059HH03 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ15 ,  2G059JJ22 ,  2G059KK01 ,  2G059MM01 ,  2G059MM05 ,  2H052AA07 ,  2H052AC15 ,  2H052AC34 ,  2H052AD18 ,  2H052AD20 ,  2H052AF03 ,  2H052AF14 ,  2H052AF21 ,  2H052AF25 ,  5B057AA10 ,  5B057BA19 ,  5B057BA21 ,  5B057CA08 ,  5B057CA13 ,  5B057CA16 ,  5B057CB08 ,  5B057CB13 ,  5B057CB16 ,  5B057CE03 ,  5B057CE06 ,  5B057CH09 ,  5B057DA16 ,  5B057DA17 ,  5B057DB03 ,  5B057DB05 ,  5B057DB09 ,  5C061AA21 ,  5C061AB01 ,  5C061AB08 ,  5C061AB11 ,  5C061AB12 ,  5C061AB14 ,  5C061AB16

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (4)

• 共焦点レーザー走査顕微鏡及びその光学的断層像表示方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-354207   Applicant：オリンパス光学工業株式会社
• 透過型レーザー顕微鏡による特定物質撮像方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-333136   Applicant：小池精機株式会社
• 透光率測定装置および方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-115144   Applicant：安藤電気株式会社
• 走査型画像入力装置及び走査型プローブ顕微鏡
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-110750   Applicant：オリンパス光学工業株式会社

Cited by examiner (5)

• 蛍光顕微鏡、蛍光顕微鏡装置を使用した表示方法、蛍光顕微鏡画像表示プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体並びに記憶した機器
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2004-152544   Applicant：株式会社キーエンス
• 拡大観察装置、拡大観察装置の操作方法、拡大観察装置操作プログラムおよびコンピュータで読み取り可能な記録媒体並びに記録した機器
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2005-207253   Applicant：株式会社キーエンス
• 走査型レーザ顕微鏡
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2005-232011   Applicant：オリンパス株式会社
• 光トラッププローブ近接場光顕微鏡装置及び近接場光検出方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2003-421773   Applicant：株式会社リコー
• 光エコー顕微鏡
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-098644   Applicant：株式会社ニコン

Article cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• Blind deconvolution of 3D transmitted light brightfield micrographs
• Hyugens Essential カタログ