Pat
J-GLOBAL ID:200903092440528055
GaN系半導体基材およびその製造方法
Inventor:
,
,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
高島 一
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2001057909
Publication number (International publication number):2002261027
Application date: Mar. 02, 2001
Publication date: Sep. 13, 2002
Summary:
【要約】【課題】 転位密度が低減されたGaN系半導体基材の構造およびその製造方法を提供すること。【解決手段】 第一番目のGaN系結晶層1の上面1aにエッチピットPを形成し、該エッチピットが、空洞状態および/またはGaN系結晶にて充填された状態となるように、該上面1aに第二番目のGaN系結晶層2を成長させる。これによって、転位線の伝搬は、エッチピットによって制御され、上層の低転位化が可能となる。
Claim (excerpt):
第一番目のGaN系結晶層上に第二番目のGaN系結晶層が成長してなる積層構造を有するGaN系半導体基材であって、第一番目のGaN系結晶層の上面は、エッチピットが形成されたものであり、第二番目のGaN系結晶層が成長することによって、前記エッチピットが、空洞状態および/またはGaN系結晶にて充填された状態となっていることを特徴とするGaN系半導体基材。
IPC (4):
H01L 21/205
, C23C 16/34
, H01L 21/306
, H01L 33/00
FI (5):
H01L 21/205
, C23C 16/34
, H01L 33/00 C
, H01L 21/302 P
, H01L 21/306 B
F-Term (31):
4K030AA06
, 4K030AA11
, 4K030AA13
, 4K030AA17
, 4K030BA38
, 4K030CA05
, 4K030DA04
, 4K030FA10
, 4K030LA14
, 5F004AA16
, 5F004DB19
, 5F004FA08
, 5F041AA03
, 5F041AA40
, 5F041CA40
, 5F041CA65
, 5F041CA74
, 5F043AA05
, 5F043BB06
, 5F043DD02
, 5F043GG10
, 5F045AA04
, 5F045AA05
, 5F045AB14
, 5F045AD14
, 5F045AF04
, 5F045AF12
, 5F045BB12
, 5F045DA53
, 5F045DA67
, 5F045HA03
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (2)
-
結晶膜、結晶基板および半導体装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-010708
Applicant:ソニー株式会社
-
結晶膜、結晶基板および半導体装置の製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-010709
Applicant:ソニー株式会社
Return to Previous Page