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J-GLOBAL ID:200903092440528055

GaN系半導体基材およびその製造方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 高島 一
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2001057909
Publication number (International publication number):2002261027
Application date: Mar. 02, 2001
Publication date: Sep. 13, 2002
Summary:
【要約】【課題】 転位密度が低減されたGaN系半導体基材の構造およびその製造方法を提供すること。【解決手段】 第一番目のGaN系結晶層1の上面1aにエッチピットPを形成し、該エッチピットが、空洞状態および/またはGaN系結晶にて充填された状態となるように、該上面1aに第二番目のGaN系結晶層2を成長させる。これによって、転位線の伝搬は、エッチピットによって制御され、上層の低転位化が可能となる。
Claim (excerpt):
第一番目のGaN系結晶層上に第二番目のGaN系結晶層が成長してなる積層構造を有するGaN系半導体基材であって、第一番目のGaN系結晶層の上面は、エッチピットが形成されたものであり、第二番目のGaN系結晶層が成長することによって、前記エッチピットが、空洞状態および/またはGaN系結晶にて充填された状態となっていることを特徴とするGaN系半導体基材。
IPC (4):
H01L 21/205 ,  C23C 16/34 ,  H01L 21/306 ,  H01L 33/00
FI (5):
H01L 21/205 ,  C23C 16/34 ,  H01L 33/00 C ,  H01L 21/302 P ,  H01L 21/306 B
F-Term (31):
4K030AA06 ,  4K030AA11 ,  4K030AA13 ,  4K030AA17 ,  4K030BA38 ,  4K030CA05 ,  4K030DA04 ,  4K030FA10 ,  4K030LA14 ,  5F004AA16 ,  5F004DB19 ,  5F004FA08 ,  5F041AA03 ,  5F041AA40 ,  5F041CA40 ,  5F041CA65 ,  5F041CA74 ,  5F043AA05 ,  5F043BB06 ,  5F043DD02 ,  5F043GG10 ,  5F045AA04 ,  5F045AA05 ,  5F045AB14 ,  5F045AD14 ,  5F045AF04 ,  5F045AF12 ,  5F045BB12 ,  5F045DA53 ,  5F045DA67 ,  5F045HA03
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (2)

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