Pat

J-GLOBAL ID：200903093127955402

垂直加速型飛行時間型質量分析装置

Inventor： 小林達次 ,  森田徹一郎 ,  長友健治
Applicant, Patent owner： 日本電子株式会社
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002339665
Publication number (International publication number)：2004172070
Application date： Nov. 22, 2002
Publication date： Jun. 17, 2004
Summary：

【課題】イオン溜を構成するイオン押し出しプレートなどが帯電することを未然に防止し、マススペクトルの分解能や感度が低下するのを回避することができるOA-TOFMSを提供する。【解決手段】外部イオン源と、外部イオン源で発生したイオンを滞在させる空間と、該空間からイオンをパルス的に加速して取り出すために該空間を挟んで対向配置されるイオン押し出しプレートとグリッドにより構成されるイオン溜と、イオン溜からグリッドを介して取り出されたイオンを質量分離する飛行時間型分光部と、質量分離されたイオンを検出するイオン検出器とを備えたOA-TOFMSにおいて、イオン押し出しプレートを含む所定の構成部材を加熱手段により加熱するようにした。【選択図】 図4

Claim (excerpt)：

外部イオン源と、 外部イオン源で発生したイオンを滞在させる空間と、 該空間からイオンをパルス的に加速して取り出すために該空間を挟んで対向配置されるイオン押し出しプレートとグリッドにより構成されるイオン溜と、 イオン溜からグリッドを介して取り出されたイオンを質量分離する飛行時間型分光部と、 質量分離されたイオンを検出するイオン検出器と を備えた垂直加速型飛行時間型質量分析装置において、 前記イオン押し出しプレートを加熱手段により加熱するようにしたことを特徴とする垂直加速型飛行時間型質量分析装置。

IPC (3)：

H01J49/40 ,  G01N27/62 ,  H01J49/06

FI (3)：

H01J49/40 ,  G01N27/62 K ,  H01J49/06

F-Term (2)：

5C038FF10 ,  5C038FF13

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (7)

• 表面からの質量分光測定
  Gazette classification：公表公報   Application number：特願2000-528995   Applicant：アナリティカオブブランフォードインコーポレーテッド
• 垂直加速型飛行時間型質量分析装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2000-223629   Applicant：日本電子株式会社
• 磁場型質量分析装置の質量分離管及び質量分離方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2000-371374   Applicant：日本電子株式会社
• 質量分析装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平11-144293   Applicant：株式会社島津製作所
• 質量スペクトロメータリーク検出器のイオンソースの汚染を削減するための手段
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-346245   Applicant：バリアン・アソシエイツ・インコーポレイテッド
• 電子真空ポンプ
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平11-304988   Applicant：日本電子株式会社
• 特開平2-288140