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J-GLOBAL ID:200903093316172206
プロセス監視装置及びその方法
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (8):
鈴江 武彦
, 河野 哲
, 中村 誠
, 蔵田 昌俊
, 峰 隆司
, 福原 淑弘
, 村松 貞男
, 橋本 良郎
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2005249816
Publication number (International publication number):2007065883
Application date: Aug. 30, 2005
Publication date: Mar. 15, 2007
Summary:
【課題】PCAを利用するプロセス系の異常診断機能を備えたプロセス監視装置において、異常診断における異常検出精度を向上できるようにして、実際的かつ有用なプロセス監視装置を提供することにある。【解決手段】PCAとウェーブレット変換を組み合わせた異常検出処理を行なうプロセス監視装置において、データ保存部2に保存されたプロセス時系列データを使用して、PCAによるプロセス監視モデルを構築するモデル構築部4と、プロセス監視モデル及びプロセス時系列データを使用してQ統計量またはホテリングT2分散の統計量データを算出するプロセス監視部51、統計量データに対してウェーブレット変換処理を実行し、複数の時間関数データに分解するプロセス監視部52と、複数の時間関数データに基づいてプロセス異常を診断するプロセス診断部6とを備えた構成である。【選択図】図1
Claim (excerpt):
対象プロセスの状態または操作量を計測する計測手段と、
前記計測手段から得られる計測結果を示すプロセス時系列データを保存するデータ保存手段と、
前記データ保存部に保存された前記プロセス時系列データを使用して、主成分分析方式によるプロセス監視モデルを構築するモデル構築手段と、
前記プロセス監視モデル及び前記プロセス時系列データを使用して、Q統計量またはホテリングT2分散の統計量データを算出する計算手段と、
前記計算手段により算出された前記統計量データに対して、ウェーブレット変換処理を実行し、複数の時間関数データに分解するデータ分解手段と、
前記データ分解手段から得られる複数の時間関数データに基づいて、前記対象プロセスの異常を診断する異常診断手段と
を具備したことを特徴とするプロセス監視装置。
IPC (2):
FI (5):
G05B23/02 302V
, G05B23/02 V
, G05B23/02 301Y
, G05B23/02 302Y
, G01D21/00 Q
F-Term (15):
2F076BA13
, 2F076BA19
, 2F076BD13
, 2F076BD14
, 2F076BD16
, 2F076BE04
, 2F076BE07
, 2F076BE08
, 2F076BE09
, 5H223AA01
, 5H223DD03
, 5H223DD09
, 5H223EE06
, 5H223EE29
, 5H223FF05
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1)
-
プラントワイド最適プロセス制御装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2003-354865
Applicant:株式会社東芝
Cited by examiner (4)
-
給水装置の制御方法及び制御装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-024033
Applicant:株式会社日立製作所, 日立テクノエンジニアリング株式会社
-
プラント異常監視装置および異常発生箇所同定方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-018081
Applicant:株式会社東芝
-
プロセス監視方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2003-096467
Applicant:三菱化学株式会社
-
プロセス管理装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2003-383909
Applicant:株式会社東芝
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