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J-GLOBAL ID:200903093706150491

品質分析監視方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 森本 義弘
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1995260590
Publication number (International publication number):1997102700
Application date: Oct. 09, 1995
Publication date: Apr. 15, 1997
Summary:
【要約】【課題】 各設備の不良発生状況を発生時刻と同期させて把握し、製造工程内の各設備に対するメンテナンスを常に適確に指示する。【解決手段】 実装設備1あるいは実装検査機から出力された品質・稼働情報が、動画・音声取り込み装置2を介して、検査日時Tのタイミングで動作状況データベース5に取り込まれている。また、検査日時Tの前後の期間ΔTにおける各設備の動作状況は、動画・音声取り込み装置2内に設けられたカメラ4aおよびマイク4bにより、それらと接続されたコントローラ3を介して、品質・稼働情報と同じく動作状況データベース5に取り込まれる。
Claim (excerpt):
加工設備による品質対象への加工および検査設備による品質対象の品質検査を行う加工・検査工程において、その加工・検査工程中に前記加工設備と検査設備から検出された品質対象の品質および加工設備と検査設備の稼働状態を示す品質・稼働情報を、その検出時刻とともにデータベース化し管理する第1の工程と、前記検出時刻の前後期間における前記加工設備と検査設備の作動状況を示す動画あるいは音声による動作情報をデータベース化し、前記検出時刻と同期して管理する第2の工程と、前記第1の工程で管理されている検出時刻または品質・稼働情報を検索キーにして前記第2の工程で管理されている動作情報を検索し、第1および第2の工程でデータベース化された情報を出力する第3の工程とから成る品質分析監視方法。
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (8)
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