圧力試験方法及びその装置

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Applicant, Patent owner：
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2005205030
Publication number (International publication number)：2007024608
Application date： Jul. 14, 2005
Publication date： Feb. 01, 2007
Summary：

【課題】ダイヤモンドアンビル・セルを利用した従来の方法においては、試料中の圧力分布が大きく、温度変化させたときに圧力の変動も大きかった。また、光が試料部を透過しないため試料の光学観察等に不便であり、透過赤外分光などの透過スペクトル測定を同時に行う事はできなかった。【解決手段】従来、金属ガスケット上に絶縁層と試料を配置していたものをあらため、金属ガスケットに貫通穴をあけ、電気絶縁性の透明固体圧力媒体を詰めて、その上に試料を配置する。圧力媒体の具体例としては、ヨウ化セシウム(CsI)、臭化カリウム(KBr)などのハロゲン化アルカリが挙げられる。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

透明な加圧子を有する高圧発生装置を利用した圧力試験方法であって、シール部材に設けられた貫通穴の中に電気絶縁性の透明な固体圧力媒体を詰め、該媒体の上に試料及び電極を配置し、該穴の上下を該加圧子により加圧することにより、試料を観察しながら該試料の加圧下における電気的特性を調査することを特徴とする圧力試験方法。

IPC (2)：

G01N 27/02 , G01N 33/00

FI (2)：

G01N27/02 Z , G01N33/00 A

F-Term (9)：

2G059AA01 , 2G059EE01 , 2G059EE12 , 2G059HH01 , 2G059JJ01 , 2G060AA08 , 2G060AE40 , 2G060AF06 , 2G060AG15

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (5)

ダイヤモンド作製方法およびその作製装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平4-269605 Applicant：株式会社半導体エネルギー研究所
ナノダイヤモンドとその製造方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2000-258567 Applicant：独立行政法人物質・材料研究機構
イオン伝導度測定方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2004-145448 Applicant：エスペック株式会社, 独立行政法人産業技術総合研究所

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Article cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

高圧固相中におけるプロトン伝導測定手法

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