Pat
J-GLOBAL ID：200903094908177665

分光輝度計の校正システム

Inventor：
井村 健二

About 井村 健二


Applicant, Patent owner：
ミノルタ株式会社

About ミノルタ株式会社


Agent (3)： 小谷 悦司 ,  植木 久一 ,  伊藤 孝夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003201726
Publication number (International publication number)：2005043153
Application date： Jul. 25, 2003
Publication date： Feb. 17, 2005
Summary：
【課題】分光輝度計の波長及び感度の校正をユーザ側で行うことができる分光輝度計の校正システムを提供する。【解決手段】校正用光源100は既知の輝線波長の輝線を出力し、被校正分光輝度計は、校正用光源の輝線出力を測定し、システム制御部300は、被校正分光輝度計200が校正用光源100の輝線出力を測定した場合に、輝線波長に隣接する複数の測定波長における受光部205からの出力比から輝線出力の波長を推定し、推定した輝線出力の波長と既知の輝線波長との差から波長変化量を推定して被校正分光輝度計200を波長校正する。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
既知の輝線波長の輝線を出力する校正用光源と、 入射される光を波長に応じて分散した光を受光し、受光した各波長成分の光強度に応じた電気信号を出力する光電変換素子が配列されてなる受光部を備え、前記校正用光源の輝線出力を測定する被校正分光輝度計と、 前記被校正分光輝度計が前記校正用光源の輝線出力を測定した場合に、前記輝線波長に隣接する複数の測定波長における前記受光部の相対出力から前記輝線出力の波長を推定し、推定した前記輝線出力の波長と前記既知の輝線波長との差から波長変化量を推定して前記被校正分光輝度計を波長校正する波長校正部とを備えることを特徴とする分光輝度計の校正システム。
IPC (1)：
G01J3/02
FI (1)：
G01J3/02 C
F-Term (6)：
2G020AA04 ,  2G020CC02 ,  2G020CC63 ,  2G020CD11 ,  2G020CD22 ,  2G020CD39
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (7)
Show all

Return to Previous Page

TOP

BOTTOM