Pat
J-GLOBAL ID:200903095858308905
識別方法及びプログラム
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
一色国際特許業務法人
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2007247717
Publication number (International publication number):2009080557
Application date: Sep. 25, 2007
Publication date: Apr. 16, 2009
Summary:
【課題】ユーザの好みに合わせた識別処理を行う。【解決手段】本識別方法は、識別対象を評価する評価関数の値と閾値との比較結果に基づいて、あるクラスに前記識別対象が属するか否かを識別する識別方法であって、前記クラスに属するサンプルと、前記クラスに属しないサンプルとを抽出する抽出ステップと、抽出された複数の前記サンプルを表示部に並べて表示すると共に、前記クラスに属するサンプルと、前記クラスに属しないサンプルとの間にマークを表示し、ユーザの指示に応じて前記マークの位置を移動することによって、別の前記サンプルと前記サンプルとの間に前記マークを表示する表示ステップと、前記ユーザの決定した前記マークの位置に応じて、前記閾値を変更する設定変更ステップとを備える。【選択図】図19
Claim (excerpt):
識別対象を評価する評価関数の値と閾値との比較結果に基づいて、あるクラスに前記識別対象が属するか否かを識別する識別方法であって、
前記クラスに属するサンプルと、前記クラスに属しないサンプルとを抽出する抽出ステップと、
抽出された複数の前記サンプルを表示部に並べて表示すると共に、前記クラスに属するサンプルと、前記クラスに属しないサンプルとの間にマークを表示し、ユーザの指示に応じて前記マークの位置を移動することによって、別の前記サンプルと前記サンプルとの間に前記マークを表示する表示ステップと、
前記ユーザの決定した前記マークの位置に応じて、前記閾値を変更する設定変更ステップと
を備えることを特徴とする識別方法。
IPC (4):
G06T 7/00
, G06F 17/30
, G06N 3/00
, G06N 5/04
FI (5):
G06T7/00 200Z
, G06F17/30 210D
, G06F17/30 340A
, G06N3/00 560A
, G06N5/04 580E
F-Term (16):
5B075ND08
, 5B075NR12
, 5B075PQ02
, 5B075PQ46
, 5B075PQ48
, 5L096AA02
, 5L096CA02
, 5L096DA05
, 5L096FA32
, 5L096FA33
, 5L096GA19
, 5L096GA38
, 5L096GA51
, 5L096JA03
, 5L096KA04
, 5L096MA07
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (2)
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パターン認識装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-105658
Applicant:株式会社日立製作所
-
有効な多クラスサポートベクトルマシン分類
Gazette classification:公表公報
Application number:特願2005-508441
Applicant:コファックス・イメージ・プロダクツ・インコーポレイテッド
Cited by examiner (5)
-
外観検査方法及びその装置および画像処理評価システム
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2007-162770
Applicant:株式会社日立ハイテクノロジーズ
-
設定方法、識別方法及びプログラム
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2007-240061
Applicant:セイコーエプソン株式会社
-
欠陥解析方法および欠陥解析システム
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-036894
Applicant:株式会社日立製作所
-
パターン認識装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-164804
Applicant:株式会社日立製作所
-
教示用データ作成方法並びに欠陥分類方法およびその装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-154865
Applicant:株式会社日立製作所
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