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J-GLOBAL ID:200903097440319369
腐食環境センサ,腐食環境センサキットおよび腐食環境評価方法
Inventor:
,
,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (2):
佐野 義雄
, 宮下 行雄
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2003357560
Publication number (International publication number):2005121510
Application date: Oct. 17, 2003
Publication date: May. 12, 2005
Summary:
【課題】各環境における鋼構造物の腐食の進行の程度を初期段階で正確に評価したり鋼構造物の腐食の進行を予測することに役立たせる。【解決手段】鋼構造物の腐食に関与する大気中の劣化因子により変色する複数種類の犠牲金属の薄膜2を非腐食性,非電導性の基板1に配列してなる。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
鋼構造物の腐食に関与する大気中の劣化因子により変色する複数種類の犠牲金属の薄膜を非腐食性,非電導性の基板に配列してなる腐食環境センサ。
IPC (3):
G01N17/00
, G01N21/88
, G01N21/93
FI (3):
G01N17/00
, G01N21/88 Z
, G01N21/93
F-Term (10):
2G050AA01
, 2G050BA05
, 2G050CA01
, 2G050DA02
, 2G050EB07
, 2G050EB10
, 2G051AB20
, 2G051AC22
, 2G051EA14
, 2G051EA17
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1)
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特許第3329767号公報 特許文献1には、鋼構造物の腐食部分を腐食のカラーサンプルとともに撮影して、画像処理によって鋼構造物の腐食の進行の程度を正確に評価する技術が記載されている。
Cited by examiner (3)
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環境評価方式およびそれを用いた環境評価装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2002-133333
Applicant:北田正弘
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腐食環境監視装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-229055
Applicant:株式会社日立製作所
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腐食環境モニタリング装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-249744
Applicant:株式会社日立製作所
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