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J-GLOBAL ID：200903097991292500

投影システムの校正装置

Inventor：
木島 竜吾

About 木島 竜吾

, 
近藤 大祐

About 近藤 大祐


Applicant, Patent owner：
国立大学法人岐阜大学

About 国立大学法人岐阜大学


Agent (1)： 特許業務法人広江アソシエイツ特許事務所
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2007320345
Publication number (International publication number)：2009147480
Application date： Dec. 12, 2007
Publication date： Jul. 02, 2009
Summary：
【課題】 投影システムに於いてスクリーンの位置姿勢と投影手段の位置姿勢のデータの正確な取得のために従来行われてきた、三次元位置計測センサの校正ゲージを用いた校正を行う必要がなくなり、より簡便かつ容易に計測空間と画像空間を整合させる。【解決手段】 校正装置10は、プロジェクタ2から投影する画像と同一の投影手段を用いて投影する6点以上の校正用の参照点を作成する参照点を作成する手段と、投影された校正用の6点以上の参照点の三次元の位置を計測する位置計測センサ12とを備えており、位置計測センサ12によって入力された参照点の位置の測定値と画像空間の参照点の位置とを比較することにより、位置計測センサ12によって計測空間に定義される座標系と画像空間に定義される座標系とを整合させる。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
移動可能に設置される物体の表面に画像を投影して表示する投影手段を有する投影システムに適用される校正装置であって、 画像投影と同一の投影手段を用いて投影する校正用の6点以上の参照点を作成する参照点作成手段と、 投影された前記校正用の参照点の三次元位置を計測する位置計測センサとを備えており、 投影パラメータに基づき前記投影手段により投影空間に投影される参照点の三次元位置と前記位置計測センサによって入力された前記参照点の三次元位置の測定値とを比較することにより、前記投影手段によって画像の投影空間に定義される座標系と前記位置計測センサによって計測空間に定義される座標系とを整合させることを特徴とする校正装置。
IPC (4)：
H04N 5/74 ,  G03B 21/00 ,  G03B 21/56 ,  G09G 5/00
FI (6)：
H04N5/74 D ,  G03B21/00 D ,  G03B21/56 Z ,  G09G5/00 510B ,  G09G5/00 550C ,  G09G5/00 X
F-Term (27)：
2H021AA07 ,  2K103AA26 ,  2K103AA27 ,  2K103AB08 ,  2K103BB05 ,  2K103BC47 ,  2K103CA01 ,  2K103CA10 ,  2K103CA54 ,  2K103CA72 ,  5C058BA27 ,  5C058BB25 ,  5C058EA02 ,  5C058EA33 ,  5C082AA03 ,  5C082AA21 ,  5C082BA12 ,  5C082BB25 ,  5C082CA31 ,  5C082CA81 ,  5C082CA85 ,  5C082CB01 ,  5C082CB08 ,  5C082DA87 ,  5C082EA20 ,  5C082MM05 ,  5C082MM10
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (7)
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Cited by examiner (6)
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