コリメータ制御方法および装置並びにX線CT装置

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：井島藤治 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000341412
Publication number (International publication number)：2002143144
Application date： Nov. 09, 2000
Publication date： May. 21, 2002
Summary：

【要約】【課題】 X線検出器上のX線照射位置が一定になるようにコリメータを制御する。【解決手段】検出素子アレイ(24)における複数の検出素子列の並設方向での扇状のビーム(400)の照射位置誤差を検出し(101)、それに基づいて扇状のビームの照射位置が定位置となるようにコリメータを制御する(103)。

Claim (excerpt)：

X線管の焦点から発散するX線をコリメータで扇状のビームに整形して、複数のX線検出素子を前記扇状のビームの広がりの方向に配列してなる検出素子列を前記扇状のビームの厚みの方向に複数個配設してなる検出素子アレイに照射し、前記検出素子アレイにおける前記検出素子列の配設方向での前記扇状のビームの照射位置と予め設定された照射位置との誤差を検出し、前記検出した誤差に基づいて前記扇状のビームの照射位置が前記予め設定された照射位置に一致するように前記コリメータを制御する、ことを特徴とするコリメータ制御方法。

IPC (3)：

A61B 6/03 331 , A61B 6/03 320 , A61B 6/03

FI (3)：

A61B 6/03 331 , A61B 6/03 320 K , A61B 6/03 320 Y

F-Term (9)：

4C093AA22 , 4C093BA03 , 4C093CA05 , 4C093CA13 , 4C093EA02 , 4C093EA14 , 4C093EB18 , 4C093FA16 , 4C093FA43

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (9)

マルチ・スライス型計算機式断層写真法システムにおいてX線ビームの位置を決定するシステム
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平8-331334 Applicant：ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ
X線CTスキャナ
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平8-029645 Applicant：株式会社東芝
X線CT装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平9-019212 Applicant：株式会社東芝

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Cited by examiner (9)

マルチ・スライス型計算機式断層写真法システムにおいてX線ビームの位置を決定するシステム
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平8-331334 Applicant：ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ
X線CTスキャナ
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平8-029645 Applicant：株式会社東芝
X線CT装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平9-019212 Applicant：株式会社東芝

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