粒子径分布測定装置および粒子径分布測定方法

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：藤本英夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999266182
Publication number (International publication number)：2001033376
Application date： Sep. 20, 1999
Publication date： Feb. 09, 2001
Summary：

【要約】【課題】測定対象試料の色やMie散乱によって特徴付けられる粒子径による散乱光の減少を補って、より高精度の粒子径分布を求めることができる粒子径分布測定装置および粒子径分布測定方法を提供する。【解決手段】測定対象試料2にレーザ光Lを照射して、生じる散乱光Lsを電気的な検出信号に変換し、この検出信号を逆演算して試料に含まれる粒子2aの粒子径分布を算出する粒子径分布測定装置1において、試料2に応じて照射するレーザ光Lの波長を変更可能とするレーザ発光部3と、測定対象試料2から最も強い散乱光Lsを測定可能である波長のレーザ光を照射したときの試料からの散乱光Lsを用いて、試料2に含まれる粒子2aの粒子径分布を解析する粒子径分布解析部1aとを有する。

Claim (excerpt)：

測定対象試料にレーザ光を照射して、生じる散乱光を電気的な検出信号に変換し、この検出信号を逆演算して試料に含まれる粒子の粒子径分布を算出する粒子径分布測定装置において、試料に応じて照射するレーザ光の波長を変更可能とするレーザ発光部と、測定対象試料から最も強い散乱光を測定可能である波長のレーザ光を照射したときの試料からの散乱光を用いて、試料に含まれる粒子の粒子径分布を解析する粒子径分布解析部とを有することを特徴とする粒子径分布測定装置。

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (4)

浮遊粒子測定装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平9-073454 Applicant：郵政省通信総合研究所長, 廣本宣久
微粒子測定装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平5-268910 Applicant：株式会社日立製作所
粒子による光散乱を測定する装置
Gazette classification：公表公報 Application number：特願平7-527355 Applicant：ローレンツ・ゲルハルト

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Cited by examiner (4)

微粒子測定装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平5-268910 Applicant：株式会社日立製作所
特表平6-501317
粒子による光散乱を測定する装置
Gazette classification：公表公報 Application number：特願平7-527355 Applicant：ローレンツ・ゲルハルト

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