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J-GLOBAL ID：201002231347064720   Reference number：10A0449229

Surface Characterization of LiFePO₄ Epitaxial Thin Films by X-ray/Neutron Reflectometry

X線/中性子反射率測定によるLiFePO₄エピタキシャル薄膜の表面キャラクタリゼーション

Author (8)： HIRAYAMA Masaaki (Tokyo Inst. of Technol., Yokohama, JPN) ,  YONEMURA Masao (Ibaraki Univ., Ibaraki, JPN) ,  SUZUKI Kouta (Tokyo Inst. of Technol., Yokohama, JPN) ,  TORIKAI Naoya (Mie Univ., Mie, JPN) ,  SMITH Hillary (Los Alamos National Lab., NM, USA) ,  WATKINSAND Erik (Los Alamos National Lab., NM, USA) ,  MAJEWSKI Jarek (Los Alamos National Lab., NM, USA) ,  KANNO Ryoji (Tokyo Inst. of Technol., Yokohama, JPN)
Material： 電気化学および工業物理化学  (Electrochemistry)
Volume： 78  Issue： 5  Page： 413-415  Publication year： May. 05, 2010 
JST Material Number： G0072A  ISSN： 1344-3542  CODEN： EECTFA  Document type： Article
Article type： 短報  Country of issue： Japan (JPN)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *X-ray reflection ,  *reflectivity ,  *neutron reflection ,  *lithium compound ,  *iron compound ,  *phosphate ,  epitaxy ,  thin film ,  *lithium ion battery ,  in situ observation ,  laser deposition ,  *interface (surface) ,  *surface structure ,  intercalation ,  Lithium ,  electrolyte ,  concentration gradient ,  reversible change ,  pulsed laser deposition ,  *X-ray reflectivity ,  *interface structure ,  *structure
Semi thesaurus term： epitaxial growth ,  reversible change

JST classification (3)： Salts  (CD01050V) ,  Thin films of other inorganic compounds  (BK14060A) ,  Secondary batteries  (YB04030K)

Reference (13)：

• 1) D. Aurbach, M. D. Levi, E. Levi, H. Teller, B. Markovsky, and G. Salitra, J. Electrochem. Soc., 145, 3024 (1998).
• 2) D. Aurbach, K. Gamolsky, B. Markovsky, G. Salitra, Y. Gofer, U. Heider, R. Oesten, and M. Schmidt, J. Electrochem. Soc., 147, 1322 (2000).
• 3) K. Araki and N. Sato, J. Power Sources, 124, 124 (2003).
• 4) Y. Wang, X. Guo, S. Greenbaum, J. Liu, and K. Amine, Electrochem. Solid-State Lett., 4, A68 (2001).
• 5) M. Menetrier, C. Vaysse, L. Croguennec, C. Delmas, C. Jordy, F. Bonhomme, and P. Biensan, Electrochem. Solid-State Lett., 7, A140 (2004).

Terms in the title (5)： X線 ,  中性子反射率測定 ,  エピタキシャル ,  薄膜 ,  キャラクタリゼーション