多重放射線分析装置、多重放射線分析方法

Inventor： , , ,
Applicant, Patent owner： ,
Agent (2)：堀城之 , 塩田康弘
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2008271475
Publication number (International publication number)：2010101663
Application date： Oct. 22, 2008
Publication date： May. 06, 2010
Summary：

【課題】微量の元素の分析を効率よく行う。【解決手段】X線検出器11〜1Nの出力パルスは、それぞれパルス時刻検出回路(時刻検出部)21〜2Nに入力される。パルス時刻検出回路21〜2Nは共通のクロックで動作し、それぞれX線検出器11〜1Nの出力パルスが入力された到着時刻をそれぞれ認識する(出力A1〜AN)。N個のX線検出器11〜1Nからの独立した出力パルスにおいて、ほぼ同時、すなわち、到着(出力)時刻の時間差が予め設定されたある一定の短い間隔(例えば100ns)内である2つの出力パルスが出力パルス組として取り出される。この出力パルス組の抽出は、OR回路、時間差判定回路、抽出回路からなるパルス組抽出部でなされる。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

被測定試料から同時に放射される2種類のエネルギーの放射線を検出することによって前記被測定試料に含まれる元素分析を行う多重放射線分析装置であって、前記放射線を検出して出力パルスとして出力する2個以上の放射線検出器と、前記各放射線検出器からの出力パルスの到着時刻を認識する時刻検出部と、前記各出力パルスのうち、到着時刻の時間差が予め設定された間隔よりも短い2つの出力パルスを出力パルス組として抽出するパルス組抽出部と、前記2つの出力パルスのそれぞれのパルス波高から、前記2つの出力パルスに対応するそれぞれの放射線のエネルギーを算出するパルス波高分析部と、を具備することを特徴とする多重放射線分析装置。

IPC (5)：

G01T 1/167 , G01T 1/24 , G01T 1/36 , G01N 23/225 , G01N 23/22

FI (5)：

G01T1/167 C , G01T1/24 , G01T1/36 D , G01N23/225 , G01N23/22

F-Term (27)：

2G001AA01 , 2G001AA03 , 2G001BA04 , 2G001BA05 , 2G001BA09 , 2G001CA01 , 2G001CA02 , 2G001CA10 , 2G001DA01 , 2G001DA06 , 2G001EA03 , 2G001FA01 , 2G001FA06 , 2G001GA01 , 2G001KA01 , 2G088EE25 , 2G088EE30 , 2G088FF03 , 2G088FF04 , 2G088FF15 , 2G088GG21 , 2G088KK01 , 2G088KK15 , 2G088KK29 , 2G088LL02 , 2G088LL06 , 2G088LL11

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

多重ガンマ線検出による高感度核種分析方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2000-168638 Applicant：日本原子力研究所

Cited by examiner (6)

多重ガンマ線検出による高感度核種分析方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2000-168638 Applicant：日本原子力研究所
核医学診断装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2006-054105 Applicant：株式会社日立製作所
X線分析装置及びその分析方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2004-108316 Applicant：株式会社東芝

Show all

Return to Previous Page