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J-GLOBAL ID:201003018738014068
オンチップメモリセルおよびその製造方法
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
Agent (1):
龍華国際特許業務法人
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):2009551901
Publication number (International publication number):2010519781
Application date: Mar. 21, 2008
Publication date: Jun. 03, 2010
Summary:
トライゲートアクセストランジスタ(145)およびトライゲートコンデンサ(155)を含む、オンチップメモリセル。オンチップメモリセルは、既存のトライゲートロジックトランジスタの製造プロセスを完全に使用できる、立体トライゲートトランジスタおよびコンデンサ構造上の混載DRAMであってよい。本発明の実施形態は、フィンアスペクト比の高さとトライゲートトランジスタの本質的に優れた表面積とを用いて、反転モードのトライゲートコンデンサを有する汎用DRAMの「トレンチ」コンデンサの代替とする。【選択図】図1
Claim (excerpt):
トライゲートアクセストランジスタと、
トライゲートコンデンサと
を備える、オンチップメモリセル。
IPC (2):
H01L 21/824
, H01L 27/108
FI (1):
F-Term (5):
5F083AD02
, 5F083AD14
, 5F083JA02
, 5F083JA15
, 5F083PR05
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (5)
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フィン・メモリ・セルおよびその製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2003-107565
Applicant:インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーション
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半導体装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-090222
Applicant:川崎製鉄株式会社
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半導体装置およびその製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-224740
Applicant:株式会社東芝
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ダブルゲートFET素子及びその製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2002-381448
Applicant:李宗昊
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特開平3-173175
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