Pat
J-GLOBAL ID：201003035140923227
光信号検出方法、光信号検出装置、光信号検出用試料セルおよび光信号検出用キット
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (2)：
柳田 征史
, 佐久間 剛
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2009096615
Publication number (International publication number)：2010190880
Application date： Apr. 13, 2009
Publication date： Sep. 02, 2010
Summary：
【課題】極めて高感度に光信号を検出可能な光信号検出方法および装置を得る。【解決手段】誘電体プレート11および該プレート11の一面の所定領域に設けられた金属層12を備えたセンサ部14を有するセンサチップ10を用意し、該センサチップ10のセンサ部に試料Sを接触させることにより、該センサ部14に被検出物質の量に応じた量の光応答性標識物質Fを結合させ、所定領域に対して励起光L0を照射し、該励起光の照射により金属層12上に生じた電場増強場内において生じる光応答性標識物質Fからの光を検出することにより、被検出物質の量を求める光信号検出方法において、光応答性標識物質Fとして、光応答物質15を、該光応答物質から生じる光を透過する光透過材料16により、該光応答物質15が金属層12に近接した場合に生じる金属消光を防止するように、包含されてなるものを用いる。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
誘電体プレートおよび、該プレートの一面の所定領域に設けられた金属層を備えたセンサ部を有するセンサチップを用意し、
該センサチップの前記センサ部に試料を接触させることにより、該センサ部に、前記試料に含有される被検出物質の量に応じた量の、光応答性標識物質が付与された結合物質を結合させ、
前記所定領域に対して励起光を照射し、該励起光の照射により前記金属層上に生じた電場増強場内において生じる前記光応答性標識物質からの光を検出することにより、前記被検出物質の量を求める光信号検出方法において、
前記光応答性標識物質として、複数の光応答物質が、該光応答物質から生じる光を透過する光透過材料により、該光応答物質が前記金属層に近接した場合に生じる金属消光を防止するように、包含されてなるものを用いたことを特徴とする光信号検出方法。
IPC (2)：
FI (2)：
F-Term (21)：
2G043AA01
, 2G043BA16
, 2G043CA04
, 2G043DA05
, 2G043DA06
, 2G043EA01
, 2G043EA14
, 2G043FA07
, 2G043HA07
, 2G043KA02
, 2G043KA07
, 2G043KA09
, 2G043LA01
, 2G043NA13
, 2G057AA04
, 2G057AB01
, 2G057AB04
, 2G057AC01
, 2G057BA05
, 2G057CB01
, 2G057GA06
Cited by examiner (6)
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