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J-GLOBAL ID:201103028561688775

表面弾性波を用いたマイクロビーム照射領域検出方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (11): 社本 一夫 ,  小野 新次郎 ,  小林 泰 ,  千葉 昭男 ,  富田 博行 ,  桜井 周矩 ,  神田 藤博 ,  田中 英夫 ,  細川 伸哉 ,  深澤 憲広 ,  平山 晃二
Gazette classification:特許公報
Application number (International application number):2004232212
Publication number (International publication number):2006047244
Patent number:4448948
Application date: Aug. 09, 2004
Publication date: Feb. 16, 2006
Claim (excerpt):
【請求項1】 標的物質に、マイクロメートルレベルのビーム形状をもつ電子、軽イオン及び重イオンから選択される粒子線を、照射することによって励起する表面弾性波を用いて、照射面におけるビームの形状、強度、頻度を測定する、表面弾性波を用いたマイクロビーム照射領域検出方法。
IPC (3):
G01T 1/29 ( 200 6.01) ,  G01N 29/00 ( 200 6.01) ,  G21K 5/04 ( 200 6.01)
FI (3):
G01T 1/29 A ,  G01N 29/00 501 ,  G21K 5/04 C
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (9)
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