コメットアッセイ解析方法およびコメットアッセイ画像解析装置およびコメットアッセイ解析装置

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Applicant, Patent owner： , ,
Agent (3)：岩橋文雄 , 内藤浩樹 , 永野大介
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2005205181
Publication number (International publication number)：2007024612
Patent number：4355832
Application date： Jul. 14, 2005
Publication date： Feb. 01, 2007
Claim (excerpt)：

【請求項1】コメットアッセイ法によって作成した標本の画像から、DNA損傷の度合いを評価するための各評価指標を算出するコメットアッセイ解析方法において、1つまたは複数のコメット画像を含んだ前記画像の中から1つの細胞からなるコメット画像であると判断するコメット画像判断工程を含み、前記コメット画像判断工程は、前記コメット画像の形状から形状特徴量を算出してその形状特徴量から1つの細胞のコメット画像と判断する工程と、前記コメット画像の相対的な高輝度部分を求めその高輝度部分の個数が1つであれば1つの細胞のコメット画像と判断する高輝度判断工程を備え、前記両工程により1つの細胞のコメット画像と判断することを特徴としたコメットアッセイ解析方法。

IPC (3)：

G01N 27/447 ( 200 6.01) , C12M 1/00 ( 200 6.01) , C12Q 1/68 ( 200 6.01)

FI (4)：

G01N 27/26 325 B , G01N 27/26 315 G , C12M 1/00 A , C12Q 1/68 A

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (10)

1つの連結領域が示すコロニーの個数を識別する識別方法及びこれを用いたコロニー計数装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平7-323750 Applicant：株式会社電脳技研
物体監視装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平7-250993 Applicant：富士電機株式会社
物体の観察方法および装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平4-064171 Applicant：株式会社日立製作所

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Cited by examiner (10)

コメットアッセイ解析装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2002-011092 Applicant：日立プラント建設株式会社
抗酸菌検査システム
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2003-125204 Applicant：東京航空計器株式会社
部品識別結果表示方法およびその装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平4-028639 Applicant：ダイキン工業株式会社

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Article cited by the Patent：

Cited by applicant (2)

Cited by examiner (2)

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