飛行時間質量分析計

Inventor： , , ,
Applicant, Patent owner：
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2007508025
Patent number：4691712
Application date： Jan. 25, 2006
Claim (excerpt)：

【請求項1】加速部が押し出し電極と、穴の開いた引き出し電極とからなり、該加速部によって、z軸上の加速開始位置に導入されたイオンをz軸方向に加速して検出器に到達させてなる飛行時間質量分析計において、前記押し出し電極の引き出し電極側の内面が曲面形状であって、前記加速部は、イオンの加速開始位置のずれに伴う飛行時間の分布を収束させてスペースフォーカス位置に配置した検出器に加速開始位置の異なるイオンを同時に到達させるとともに、イオンが前記加速開始位置に導入されたときのイオンのz軸と直交する方向の導入エネルギーの分布を補正して、前記内面の曲面形状を反映した電場の勾配と方向の分布により軌道を修正して引き出し電極以降の軌道がz軸に平行となるように軌道制御を行うことを特徴とする飛行時間質量分析計。

IPC (2)：

H01J 49/40 ( 200 6.01) , H01J 49/10 ( 200 6.01)

FI (2)：

H01J 49/40 , H01J 49/10

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (5)

飛行時間型質量分析装置のガス相イオン源
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平6-152491 Applicant：トーラルト・ベルクマン, エーバ・マルティナ・ベルクマン
平行イオンビーム形成装置及び方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平8-143493 Applicant：バリアン・アソシエイツ・インコーポレイテッド
質量分析装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平8-219236 Applicant：株式会社島津製作所

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Cited by examiner (5)

飛行時間型質量分析装置のガス相イオン源
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