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J-GLOBAL ID:201103040241048670
金属の表面品質評価方法および金属の表面品質評価装置
Inventor:
,
,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (4):
志賀 正武
, 高橋 詔男
, 棚井 澄雄
, 増井 裕士
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2010059321
Publication number (International publication number):2011191252
Application date: Mar. 16, 2010
Publication date: Sep. 29, 2011
Summary:
【課題】表面に形成された酸化被膜の厚さの分布を考慮して金属の品質を自動的に評価することができる金属の表面品質評価方法を提供する。【解決手段】金属の表面品質評価方法は、被検体の表面の画像を撮像し、画像に含まれる複数の画素における色成分情報を求める撮像工程S1と、予め測定された金属の表面の画像に含まれる画素における色成分情報による色空間上での位置の軌跡、および、金属の表面における色成分情報を求めた位置での酸化被膜の厚さ、の対応関係と、色成分情報の色空間上での位置と、を比較して、画素に対応する酸化被膜の厚さを求める膜厚決定工程S2と、複数の酸化被膜の厚さに対する特定特徴量を求める特徴量決定工程S3と、予め測定された良品/不良品となる金属の特徴量と、特徴量決定工程で求められた特定特徴量とを機械学習により比較して、被検体が良品か不良品かを評価する良品評価工程S4と、を備える。【選択図】図5
Claim (excerpt):
金属である被検体の表面に形成された酸化被膜により前記被検体の品質を評価する金属の表面品質評価方法であって、
前記被検体の表面の画像を撮像し、前記画像に含まれる複数の画素における色成分情報を求める撮像工程と、
予め測定された前記金属の表面の前記画像に含まれる画素における色成分情報による色空間上での位置の軌跡、および、前記金属の表面における前記色成分情報を求めた位置での酸化被膜の厚さ、の対応関係と、前記撮像工程で測定した前記画素における色成分情報の前記色空間上での位置と、を比較して、それぞれの前記画素に対応する前記酸化被膜の厚さを求める膜厚決定工程と、
前記膜厚決定工程で求められたそれぞれの前記酸化被膜の厚さから、複数の前記酸化被膜の厚さに対する最大値、最小値、平均値、分散、標準偏差、中央値、分位点、平均情報量、コントラストおよびエネルギーである特徴量のうち少なくとも一つである特定特徴量を求める特徴量決定工程と、
予め測定された良品となる前記金属の前記特徴量および不良品となる前記金属の前記特徴量と、前記特徴量決定工程で求められた前記特定特徴量と、を機械学習により比較して、前記被検体が良品か不良品かを評価する良品評価工程と、
を備えることを特徴とする金属の表面品質評価方法。
IPC (1):
FI (1):
F-Term (14):
2G051AA37
, 2G051AB02
, 2G051AB12
, 2G051BA01
, 2G051BB17
, 2G051CA04
, 2G051CB01
, 2G051CB10
, 2G051EA17
, 2G051EB01
, 2G051EC01
, 2G051EC02
, 2G051EC03
, 2G051ED21
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (10)
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特開平4-043905
-
膜厚測定装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-059806
Applicant:中央精機株式会社
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腐食度評価方法、装置及びプログラム
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2008-145969
Applicant:財団法人電力中央研究所
-
特開昭51-011464
-
被覆材料の製造方法および製造設備
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-348809
Applicant:大同特殊鋼株式会社
-
特開昭62-042006
-
特開昭61-117404
-
電子部品の評価方法および評価装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-161562
Applicant:シャープ株式会社
-
外観検査方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2007-273799
Applicant:株式会社デンソー
-
異なる検査パラメータを使用する試験片の検査のための方法とシステム
Gazette classification:公表公報
Application number:特願2006-525531
Applicant:ケーエルエー・テンコール・テクノロジーズ・コーポレーション
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