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J-GLOBAL ID:201103063774682720
Ni-Mn-Ga系形状記憶合金薄膜とその製造方法
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
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Agent (2):
池田 憲保
, 山本 格介
Gazette classification:特許公報
Application number (International application number):2000089128
Publication number (International publication number):2001279356
Patent number:4231188
Application date: Mar. 28, 2000
Publication date: Oct. 10, 2001
Claim (excerpt):
【請求項1】 スパッタリング法によって形成された柱状組織を有するNi-Mn-Ga系形状記憶合金薄膜を800°Cから1000°Cの温度で熱処理してなり、前記合金薄膜は、(220)面におけるX線回折による相対強度のピークが熱処理以前よりも鋭く且つ大きく、前記(220)面の結晶配向性を有し、かつ前記熱処理によって結晶粒が成長していることを特徴とするNi-Mn-Ga系形状記憶合金薄膜。
IPC (5):
C23C 14/14 ( 200 6.01)
, C23C 14/58 ( 200 6.01)
, C22C 19/03 ( 200 6.01)
, C22F 1/10 ( 200 6.01)
, C30B 29/52 ( 200 6.01)
FI (5):
C23C 14/14 D
, C23C 14/58 A
, C22C 19/03 A
, C22F 1/10 G
, C30B 29/52
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)
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NiMnGa合金
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-067046
Applicant:株式会社トーキン
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Ti-Ni形状記憶合金薄膜の製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-230368
Applicant:坂本英和, 昭和電線電纜株式会社
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形状記憶合金薄膜アクチュエータ及びその製造方法、並びに光偏向器
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-247225
Applicant:オリンパス光学工業株式会社
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