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J-GLOBAL ID:201103063774682720

Ni-Mn-Ga系形状記憶合金薄膜とその製造方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (2): 池田 憲保 ,  山本 格介
Gazette classification:特許公報
Application number (International application number):2000089128
Publication number (International publication number):2001279356
Patent number:4231188
Application date: Mar. 28, 2000
Publication date: Oct. 10, 2001
Claim (excerpt):
【請求項1】 スパッタリング法によって形成された柱状組織を有するNi-Mn-Ga系形状記憶合金薄膜を800°Cから1000°Cの温度で熱処理してなり、前記合金薄膜は、(220)面におけるX線回折による相対強度のピークが熱処理以前よりも鋭く且つ大きく、前記(220)面の結晶配向性を有し、かつ前記熱処理によって結晶粒が成長していることを特徴とするNi-Mn-Ga系形状記憶合金薄膜。
IPC (5):
C23C 14/14 ( 200 6.01) ,  C23C 14/58 ( 200 6.01) ,  C22C 19/03 ( 200 6.01) ,  C22F 1/10 ( 200 6.01) ,  C30B 29/52 ( 200 6.01)
FI (5):
C23C 14/14 D ,  C23C 14/58 A ,  C22C 19/03 A ,  C22F 1/10 G ,  C30B 29/52
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)

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