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J-GLOBAL ID：201103071951096731

眼底画像処理装置

Inventor：
楠城 紹生

About 楠城 紹生


Applicant, Patent owner：
株式会社ニデック

About 株式会社ニデック


Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2011025249
Publication number (International publication number)：2011098221
Application date： Feb. 08, 2011
Publication date： May. 19, 2011
Summary：
【課題】 精度よく詳細な網膜の評価を行う。【解決手段】 眼底の同一部位に関して光干渉断層計によって時間をおいて取得された第1の眼底断層画像と第2の眼底断層画像とを比較するための眼底画像処理装置において、光干渉断層計によって取得された第1の眼底3次元断層画像と,第1の眼底3次元断層画像に対応付けされた第1の眼底正面画像とを取得する第1画像取得手段と、第1の眼底3次元断層画像の取得から時間をおいて光干渉断層計によって取得された第2の眼底3次元断層画像と,第2の眼底3次元断層画像に対応付けされた第2の眼底正面画像とを取得する第2画像取得手段と、第1の眼底正面画像と第2の眼底正面画像との位置合わせを行い、位置合わせの結果に基づいて,予め取得された第1の眼底3次元断層画像と予め取得された第2の眼底3次元断層画像を対応付ける対応付け手段と、と有することを特徴とする。【選択図】 図3
Claim (excerpt)：
眼底の同一部位に関して光干渉断層計によって時間をおいて取得された第1の眼底断層画像と第2の眼底断層画像とを比較するための眼底画像処理装置において、 光干渉断層計によって取得された第1の眼底3次元断層画像と,該第1の眼底3次元断層画像に対応付けされた第1の眼底正面画像とを取得する第1画像取得手段と、 前記第1の眼底3次元断層画像の取得から時間をおいて光干渉断層計によって取得された第2の眼底3次元断層画像と,該第2の眼底3次元断層画像に対応付けされた第2の眼底正面画像とを取得する第2画像取得手段と、 前記第1の眼底正面画像と前記第2の眼底正面画像との位置合わせを行い、該位置合わせの結果に基づいて,予め取得された前記第1の眼底3次元断層画像と予め取得された前記第2の眼底3次元断層画像とを対応付ける対応付け手段と、 と有することを特徴とする眼底画像処理装置。
IPC (5)：
A61B 3/10 ,  A61B 3/12 ,  A61B 3/14 ,  G01N 21/17 ,  G06T 1/00
FI (5)：
A61B3/10 R ,  A61B3/12 E ,  A61B3/14 M ,  G01N21/17 630 ,  G06T1/00 290Z
F-Term (29)：
2G059AA05 ,  2G059BB12 ,  2G059CC16 ,  2G059EE02 ,  2G059EE09 ,  2G059EE17 ,  2G059FF02 ,  2G059GG02 ,  2G059HH01 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ13 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ22 ,  2G059KK01 ,  2G059LL01 ,  2G059MM01 ,  5B057AA07 ,  5B057BA02 ,  5B057CA08 ,  5B057CA13 ,  5B057CA16 ,  5B057CB08 ,  5B057CB13 ,  5B057CB16 ,  5B057DA07 ,  5B057DB03 ,  5B057DB09 ,  5B057DC32
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (2) Cited by examiner (2)
  • 眼科装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平10-061797   Applicant：興和株式会社
  • 眼底像撮影装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2000-365146   Applicant：株式会社トプコン

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