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J-GLOBAL ID:201103075310188399
筒状体内面付着層の厚さ測定方法
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
Agent (3):
鎌田 文二
, 田川 孝由
, 北川 政徳
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2010224521
Publication number (International publication number):2011002470
Application date: Oct. 04, 2010
Publication date: Jan. 06, 2011
Summary:
【課題】筒状体を伝播される超音波として、板波、特にラム波を用いることにより、筒状体内部に付着した付着層の厚みを測定することを目的とする。【解決手段】一対の探触子のうち一方の探触子を検査対象の筒状体外面に固定すると共に、他方の探触子が検査対象の筒状体外面上を移動自在となるように設置し、他方の探触子を移動させながら、両探触子間に超音波を送受信させることにより、筒状体にラム波を伝播させ、送信された周波数について探触子に受信される超音波の伝播時間及び振幅を測定し、伝播距離及び伝播時間から超音波の位相速度を求め、この位相速度が急激に変化する周波数の値から、筒状体内面に付着した、筒状体内部に貯留又は通過する物質又はその物質由来の付着物から形成される付着層の厚さの推定値を求める。【選択図】図1
Claim (excerpt):
一対の探触子のうち一方の探触子を検査対象の筒状体外面に固定すると共に、他方の探触子が検査対象の筒状体外面上を移動自在となるように設置し、
上記の他方の探触子を移動させながら、上記両探触子間に超音波を送受信させることにより、筒状体にラム波を伝播させ、
送信された周波数について上記探触子に受信される超音波の伝播時間及び振幅を測定し、
上記伝播距離及び上記伝播時間から上記超音波の位相速度を求め、
この位相速度が急激に変化する周波数の値から、上記筒状体内面に付着した、上記筒状体内部に貯留又は通過する物質又はその物質由来の付着物から形成される付着層の厚さの推定値を求める筒状体内面付着層の厚さ測定方法。
IPC (1):
FI (1):
F-Term (11):
2F068AA28
, 2F068BB09
, 2F068CC09
, 2F068CC16
, 2F068DD05
, 2F068FF04
, 2F068FF11
, 2F068FF25
, 2F068HH04
, 2F068KK14
, 2F068QQ42
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (8)
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筒状体内面付着層の厚さ測定方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2005-148601
Applicant:三菱化学株式会社
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超音波非破壊計測方法及びそれに用いる超音波非破壊計測装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2004-272454
Applicant:トヨタ自動車株式会社, 財団法人ファインセラミックスセンター
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筒状体内面付着層の厚さ測定方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2004-050032
Applicant:三菱化学株式会社
-
筒状体内面付着層の厚さ測定方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2003-368959
Applicant:三菱化学株式会社
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非破壊検査方法および非破壊検査装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2003-091845
Applicant:コスモ石油株式会社, 非破壊検査株式会社
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管内面付着物の測定方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2002-185684
Applicant:非破壊検査株式会社, 三菱化学株式会社
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表面層特性の測定方法および装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-007501
Applicant:株式会社日立製作所
-
特開平4-204315
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Article cited by the Patent:
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