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J-GLOBAL ID：201103081429774822

電池パックおよび電池劣化度検出方法

Inventor：
森 靖

About 森 靖


Applicant, Patent owner：
ソニー株式会社

About ソニー株式会社


Agent (2)： 杉浦 正知 ,  杉浦 拓真
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2010170138
Publication number (International publication number)：2011103291
Application date： Jul. 29, 2010
Publication date： May. 26, 2011
Summary：
【課題】分極抵抗成分の大きい放置による劣化が生じた電池についても、劣化度を正確に得る。【解決手段】充電時における閉回路電圧および充電電流と、閉回路電圧測定後に充電制御スイッチをOFFした後、第1の待機時間が経過した時点での第1の開回路電圧と、第1の待機時間よりも長い第2の待機時間が経過した時点での第2の開回路電圧とを測定し、閉回路電圧と第1の開回路電圧との電圧差と、充電電流とを基に直流抵抗成分を算出し、第1の開回路電圧と第2の開回路電圧との電圧差と、充電電流とを基に分極抵抗成分を算出し、直流抵抗成分と、分極抵抗成分との和から、初期の内部抵抗を減算して劣化度を算出する。充電時に閉回路電圧が定格電圧以上となった場合に充電制御スイッチをOFFし、第1の待機時間が経過した時点での第1の開回路電圧と、第1の待機時間よりも長い第2の待機時間が経過した時点での第2の開回路電圧とを測定することが好ましい。【選択図】図3
Claim (excerpt)：
1または複数の二次電池と、 上記二次電池に対する充電電流をON/OFFする充電制御スイッチと、 上記二次電池に対する放電電流をON/OFFする放電制御スイッチと、 充電電流および放電電流を検出するための電流検出素子と、 上記二次電池の電圧を測定する電圧測定部と、 上記充電制御スイッチおよび上記放電制御スイッチを制御する制御部と、 上記二次電池の初期の内部抵抗を記憶する記憶部と を備え、 上記制御部は、 充電時における閉回路電圧および充電電流と、閉回路電圧測定直後に上記充電制御スイッチをOFFした後、第1の待機時間が経過した時点での第1の開回路電圧と、第1の待機時間よりも長い第2の待機時間が経過した時点での第2の開回路電圧とを測定し、 上記閉回路電圧と上記第1の開回路電圧との電圧差と、上記充電電流とを基に直流抵抗成分を算出し、 上記第1の開回路電圧と上記第2の開回路電圧との電圧差と、上記充電電流とを基に分極抵抗成分を算出し、 上記直流抵抗成分と、上記分極抵抗成分との和から、上記初期の内部抵抗を減算して劣化度を算出する 電池パック。
IPC (4)：
H01M 10/48 ,  H01M 10/42 ,  H01M 2/10 ,  G01R 31/36
FI (4)：
H01M10/48 P ,  H01M10/42 P ,  H01M2/10 E ,  G01R31/36 A
F-Term (36)：
2G016CB05 ,  2G016CB06 ,  2G016CB11 ,  2G016CB12 ,  2G016CC01 ,  2G016CC03 ,  2G016CC04 ,  2G016CC10 ,  2G016CC12 ,  2G016CC23 ,  2G016CC27 ,  2G016CC28 ,  2G016CD02 ,  2G016CD06 ,  2G016CD14 ,  2G016CF00 ,  2G016CF06 ,  5H030AA03 ,  5H030AA04 ,  5H030AA10 ,  5H030AS11 ,  5H030AS12 ,  5H030AS14 ,  5H030AS18 ,  5H030BB09 ,  5H030FF42 ,  5H030FF43 ,  5H030FF44 ,  5H040AA39 ,  5H040AS13 ,  5H040AS14 ,  5H040AS19 ,  5H040AT01 ,  5H040AY08 ,  5H040DD08 ,  5H040DD26
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (11)
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Cited by examiner (11)
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