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J-GLOBAL ID:201103091354314370

化粧料の膜の断面観察用試料の調製方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (6): 川口 嘉之 ,  松倉 秀実 ,  遠山 勉 ,  佐貫 伸一 ,  丹羽 武司 ,  辻田 朋子
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2009275345
Publication number (International publication number):2011117826
Application date: Dec. 03, 2009
Publication date: Jun. 16, 2011
Summary:
【課題】液体と固体を含有し、硬さが異なる材料からなる化粧料の膜の断面観察用試料を簡単に調製することが可能な、化粧料の膜の断面観察用試料の調製方法、該断面の評価方法及び該評価結果から化粧料を処方設計し作成する方法を提供すること。【解決手段】支持体の表面に化粧料を塗布し、支持体上に化粧料の皮膜を形成させ、イオンビームでエッチングをして、該膜の観察用断面を形成する。前記イオンビームはアルゴンイオンビーム又はC60クラスターイオンビームが好ましい。さらに、前記化粧料の膜は樹脂包埋剤で被覆して外膜を形成することが好ましく、断面形成部分に収束イオンビームによるスパッタコーティングすることが好ましい。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
支持体の表面に化粧料を塗布して、支持体上に化粧料の膜を形成する工程、及びイオンビームによるエッチングで前記化粧料の膜の厚さ方向の断面を露出させて、化粧料膜の観察用断面を形成する工程を含む、化粧料の膜の断面観察用試料の調製方法。
IPC (1):
G01N 1/28
FI (2):
G01N1/28 F ,  G01N1/28 G
F-Term (4):
2G052EC22 ,  2G052FA00 ,  2G052FD06 ,  2G052GA11
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)
Article cited by the Patent:
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