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J-GLOBAL ID：201202233833239270   Reference number：12A0654920

SPMのフロンティア~多様な材料系の研究ニーズに対応するSPM物性計測の最先端~大気中・液中で動作する高分解能FM-AFMの開発

Author (2)： KOKAWA RYOHEI (島津製作所) ,  OTA MASAHIRO (島津製作所)
Material： 顕微鏡  (Microscopy)
Volume： 47  Issue： 1  Page： 22-25  Publication year： Mar. 30, 2012 
JST Material Number： Y0541A  ISSN： 1349-0958  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： scanning tunneling microscope ,  *atomic force microscope ,  scanning probe microscope ,  atmosphere (location) ,  position ,  high-resolution ,  organic material ,  nanotechnology ,  in solution
Semi thesaurus term： *frequency modulation AFM

JST classification (1)： Electron and ion microscopes  (BD02050B)

Reference (10)：

• 1)Binnig, G., Rohrer, H., Gerber, Ch. and Weibel, E.: Phys. Rev. Lett., 49, 57-61 (1982)
• 2)Binnig, G., Quate, C.F. and Gerber, Ch.: Phys. Rev. Lett., 56, 930-933 (1986)
• 3)Albrecht, T.R., Grutter, P., Horne, D. and Rugar, D.: J. Appl. Phys., 69, 668-673 (1991)
• 4)Morita, S., Wiesendanger, R. and Meyer, E. (Eds.): “Noncontact Atomic Force Microscopy” NanoScience and Technology Series, Springer-Verlag, Berlin, Heidelberg, New York (2002)
• 5)山田啓文:表面科学,29,221-228(2008)

Terms in the title (11)： SPM ,  研究 ,  ニーズ ,  物性 ,  計測 ,  最先端 ,  大気中 ,  液中 ,  高分解能 ,  FM-AFM ,  開発