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J-GLOBAL ID：201202277526333887   Reference number：12A0627654

Detector, Data Acquisition System, Instrument Control, and Data Analysis

動き始めたXFEL施設SACLA 検出器・データ取得システム・実験機器制御・解析

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Author (22)： HATSUI TAKAKI (理研 播磨研) ,  HATSUI TAKAKI (高輝度光科学研究セ) ,  KAMESHIMA TAKASHI (高輝度光科学研究セ) ,  ONO SHUN (理研 播磨研) ,  KIRIHARA YOICHI (理研 播磨研) ,  KUDO TOGO (理研 播磨研) ,  KUDO TOGO (高輝度光科学研究セ) ,  KOBAYASHI KAZUO (理研 播磨研) ,  KOBAYASHI KAZUO (高輝度光科学研究セ) ,  OMODANI MOTOHIKO (高輝度光科学研究セ) ,  OZAKI KYOSUKE (理研 播磨研) ,  JOUCHI YASUMASA (高輝度光科学研究セ) ,  TOKUHISA ATSUSHI (理研 播磨研) ,  HORIGOME TOSHIO (自然科学研究機構 分子科研) ,  YAMAGA MITSUHIRO (高輝度光科学研究セ) ,  FURUKAWA YUKITO (高輝度光科学研究セ) ,  KIYOMICHI AKIO (高輝度光科学研究セ) ,  SUGIMOTO TAKASHI (高輝度光科学研究セ) ,  HIRONO TOKO (高輝度光科学研究セ) ,  OHATA TOORU (高輝度光科学研究セ) ,  AMSELEM Arnaud (高輝度光科学研究セ) ,  TANAKA RYOTARO (高輝度光科学研究セ)
Material： 放射光  (日本放射光学会誌)
Volume： 25  Issue： 2  Page： 82-88  Publication year： Mar. 31, 2012 
JST Material Number： L0956A  ISSN： 0914-9287  Document type： Article
Article type： 解説  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *X-ray laser ,  *free electron laser ,  synchrotron radiation facility ,  data collection system ,  radiation detector ,  data analysis ,  control ,  *X-ray free electron laser ,  X-ray detector ,  *SACLA(laser)
Semi thesaurus term： *SPring-8 X-ray free electron laser ,  data acquisition system

JST classification (3)： Other lasers  (BD04090H) ,  Linear accelerators  (BE02030I) ,  X-ray instruments and techniques  (BA02060D)

Reference (4)：

• http://www.hdfgroup.org/HDF5/
• YAMAGA, M. Proceedings of ICALEPCS2011. 2011
• KIYOMICHI, A. Proceedings of ICALEPCS2011. 2011
• SUGIMOTO, T. Proceedings of ICALEPCS2011. 2011

Terms in the title (8)： XFEL ,  施設 ,  SACLA ,  検出器 ,  データ取得システム ,  実験 ,  機器制御 ,  解析