Pat

J-GLOBAL ID：200903057692170706

材質識別検査装置および方法

Inventor： 石田 大典 ,  金子 七三雄 ,  青木 徹
Applicant, Patent owner： 株式会社IHI ,  国立大学法人静岡大学
Agent (3)： 堀田 実 ,  仲宗根 康晴 ,  野村 俊博
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2007221138
Publication number (International publication number)：2009053090
Application date： Aug. 28, 2007
Publication date： Mar. 12, 2009
Summary：

【課題】被検査物を連続的に検査して、短時間にその材質を識別することができ、かつ予めX線の検出出力と対象物の厚みとの特性データを求める必要がない材質識別検査装置および方法を提供する。【解決手段】検査物5を搬送する搬送装置12と、被検査物に対し、搬送方向に直交する同一断面内で、2以上の異なる方向から、所定のエネルギー分布を有する入射X線7を、同時又は時間をずらして照射するX線照射装置14と、入射X線が被検査物を透過した透過X線8から2以上のエネルギー領域のX線強度を弁別して計測するX線検出装置16と、2以上のエネルギー領域における入射X線と透過X線の強度から、被検査物の実効原子番号Zeffと電子密度ρeを算出し、これから被検査物の材質を識別する演算装置18とを備える。【選択図】図2

Claim (excerpt)：

被検査物を搬送する搬送装置と、 前記被検査物に対し、搬送方向に直交する同一断面内で、2以上の異なる方向から、所定のエネルギー分布を有する入射X線を、同時又は時間をずらして照射するX線照射装置と、 前記入射X線が被検査物を透過した透過X線から2以上のエネルギー領域のX線強度を弁別して計測するX線検出装置と、 前記2以上のエネルギー領域における入射X線と透過X線の強度から、被検査物の実効原子番号と電子密度を算出し、これから被検査物の材質を識別する演算装置と、を備えたことを特徴とする材質識別検査装置。

IPC (1)：

G01N 23/04

FI (1)：

G01N23/04

F-Term (25)：

2G001AA01 ,  2G001AA09 ,  2G001AA10 ,  2G001AA20 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001DA01 ,  2G001DA02 ,  2G001DA06 ,  2G001DA08 ,  2G001EA03 ,  2G001EA20 ,  2G001FA08 ,  2G001JA01 ,  2G001JA06 ,  2G001JA09 ,  2G001KA01 ,  2G001KA13 ,  2G001NA03 ,  2G001NA06 ,  2G001NA10 ,  2G001NA17 ,  2G001PA06 ,  2G001PA11 ,  2G001QA02

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (4)

• 材質特定X線検査装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-260556   Applicant：株式会社島津製作所
• 内容物識別装置および内容物識別方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平9-230764   Applicant：株式会社日立エンジニアリングサービス
• 対象物の吸収率に依存した輝度制御を含むX線検査装置
  Gazette classification：公表公報   Application number：特願2000-587586   Applicant：コーニンクレッカフィリップスエレクトロニクスエヌヴィ
• 高速中性子及び連続エネルギー・スペクトルX線により材料識別する方法及びその装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2006-133483   Applicant：清華大學, 清華同方威視技術股ふん有限公司

Cited by examiner (5)

• 爆発物探知装置および方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2005-029935   Applicant：株式会社日立製作所
• 危険物探知装置および危険物探知方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2002-340274   Applicant：株式会社日立製作所, 株式会社日立エンジニアリングサービス
• 診断用X線CT
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平11-145147   Applicant：科学技術庁放射線医学総合研究所長, 株式会社東芝
• 半固定式物質同定装置および方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2007-167920   Applicant：株式会社IHI
• 高速材質識別検査装置および方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2007-208999   Applicant：株式会社IHI

Article cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 「Rapid kV Switching法によるCT Dual Energy Scanの検討(2)」
• ”2色X線CTを用いた物質同定への基礎実験”