Pat
J-GLOBAL ID：201203073350285596

光測定システム

Inventor：
橋本 義浩

About 橋本 義浩

, 
浅見 浩行

About 浅見 浩行

, 
島田 徹

About 島田 徹


Applicant, Patent owner：
住友大阪セメント株式会社

About 住友大阪セメント株式会社


Agent (2)： 田村 爾 ,  杉村 純子
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2010161188
Publication number (International publication number)：2012021921
Application date： Jul. 16, 2010
Publication date： Feb. 02, 2012
Summary：
【課題】 1本の光ファイバにより歪と温度の両方を測定し、より正確な歪情報を測定することが可能であると共に、コストの増加を抑制した光測定システムを提供すること。【解決手段】 光ファイバを用いて温度及び歪みを測定可能な光測定システムにおいて、1本の光ファイバ2を用いて温度及び歪みに係る測定光を検知し、測定対象物に配置された該光ファイバの一部に、該測定対象物から該光ファイバに加わる応力を遮断するシールド部材3が配置され、該シールド部材内に配置される該光ファイバの状態に基づく測定光から温度を検出する温度検出手段と、該シールド部材以外に配置される該光ファイバの状態に基づく測定光から歪みを検出する歪検出手段と、該歪検出手段の結果を、該温度検出手段の結果で補償する温度補償手段とを有することを特徴とする。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
光ファイバを用いて温度及び歪みを測定可能な光測定システムにおいて、 1本の光ファイバを用いて温度及び歪みに係る測定光を検知し、 測定対象物に配置された該光ファイバの一部に、該測定対象物から該光ファイバに加わる応力を遮断するシールド部材が配置され、 該シールド部材内に配置される該光ファイバの状態に基づく測定光から温度を検出する温度検出手段と、 該シールド部材以外に配置される該光ファイバの状態に基づく測定光から歪みを検出する歪検出手段と、 該歪検出手段の結果を、該温度検出手段の結果で補償する温度補償手段とを有することを特徴とする光測定システム。
IPC (2)：
G01B 11/00 ,  G01K 11/12
FI (2)：
G01B11/00 G ,  G01K11/12 F
F-Term (7)：
2F056VF02 ,  2F056VF11 ,  2F065AA09 ,  2F065EE01 ,  2F065FF48 ,  2F065LL02 ,  2F065LL42
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (6)
  • 多点型歪み及び温度センサ
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-300218   Applicant：日立電線株式会社
  • 温度検出
    Gazette classification：公表公報   Application number：特願2009-546808   Applicant：ジーケイエヌエアロスペースサービシイズリミテッド
  • ブリルアン散乱測定装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2008-085474   Applicant：住友大阪セメント株式会社, 鹿島建設株式会社
Show all

Return to Previous Page

TOP

BOTTOM