Pat
J-GLOBAL ID:201203075615991512
超音波検査方法及び超音波検査装置
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (2):
北村 光司
, 高尾 俊雄
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2010294133
Publication number (International publication number):2012141213
Application date: Dec. 28, 2010
Publication date: Jul. 26, 2012
Summary:
【課題】 被検査体の状況に関わらず簡便に検査対象部の減肉等を検出可能な超音波検査方法及び超音波検査装置を提供すること。【解決手段】 被検査体100の表面100aは、少なくとも送信子2及び受信子3間において被検査体100の外側に向けて凸状の曲面である。送信子2は、曲面のみの反射を複数回繰り返して曲面に沿うように伝搬する横波(以下、「表面伝搬横波TW1」とする)を少なくとも発生させる。減肉等Dを迂回することによる表面伝搬横波TW1の受信時間の遅れにより検査対象部101の減肉等Dを検査する。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
検査対象部を跨いで送信子及び受信子を被検査体の表面に配置し、前記送信子から前記被検査体へ超音波を送信すると共に前記被検査体を伝搬した超音波を前記受信子で受信することにより前記検査対象部の減肉等を検査する超音波検査方法であって、
前記被検査体の表面は、少なくとも前記送信子及び受信子間において前記被検査体の外側に向けて凸状の曲面であり、
前記送信子は、前記曲面のみの反射を複数回繰り返して前記曲面に沿うように伝搬する横波(以下、「表面伝搬横波」とする)を少なくとも発生させるものであり、
前記減肉等を迂回することによる前記表面伝搬横波の受信時間の遅れにより前記検査対象部の減肉等を検査する超音波検査方法。
IPC (2):
FI (3):
G01N29/08 502
, G01N29/18
, G01N29/04 502
F-Term (19):
2G047AA07
, 2G047AB01
, 2G047AB07
, 2G047BA02
, 2G047BB02
, 2G047BC02
, 2G047BC03
, 2G047BC08
, 2G047BC11
, 2G047CA01
, 2G047CB02
, 2G047CB03
, 2G047CB06
, 2G047DA01
, 2G047GA15
, 2G047GB27
, 2G047GF06
, 2G047GG30
, 2G047GG33
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (5)
-
表面波による欠陥の検査方法及び検査装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-260694
Applicant:出光エンジニアリング株式会社, 非破壊検査株式会社
-
特開平1-161144
-
超音波探傷装置および超音波探傷方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2006-189281
Applicant:三菱電機株式会社, 菱電湘南エレクトロニクス株式会社
-
超音波センサ及び材料測定装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-298350
Applicant:東芝タンガロイ株式会社
-
超音波探傷方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-127395
Applicant:住友金属工業株式会社, 株式会社トキメック
Show all
Return to Previous Page