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J-GLOBAL ID：200903057424960842

表面波による欠陥の検査方法及び検査装置

Inventor：
広田 信明

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岸 栄一

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横野 泰和

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今中 拓一

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四辻 美年

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Applicant, Patent owner：
出光エンジニアリング株式会社

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非破壊検査株式会社

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Agent (1)： 北村 光司
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001260694
Publication number (International publication number)：2003066012
Application date： Aug. 30, 2001
Publication date： Mar. 05, 2003
Summary：
【要約】【課題】 測定精度が高く迅速に実施することの可能な表面波による欠陥の検査方法及び検査装置を提供すること。【解決手段】 管100の一部である検査対象部101を跨いで表面波の送信子3と受信子4とをガイド装置Gに支持させて配置する。これら送信子3及び受信子4によりこれらの距離をほぼ一定に保ちながら管100の軸方向Yに沿って検査対象部101を走査する。そして、受信子4による受信波の到達時間を各走査位置で比較することにより検査対象部101の減肉等の欠陥Dを検査する。管軸方向に沿ってガイド装置を移動させればよいので、迅速に検査を実施することができるようになった。
Claim (excerpt)：
管(100)の一部である検査対象部(101)を跨いで表面波の送信子(3)と受信子(4)とをガイド装置(G)に支持させて配置し、これら送信子(3)及び受信子(4)によりこれらの距離をほぼ一定に保ちながら前記管(100)の軸方向(Y)に沿って前記検査対象部(101)を走査し、前記受信子(4)による受信波の到達時間を各走査位置で比較することにより検査対象部(101)の減肉等の欠陥(D)を検査する表面波による欠陥の検査方法。
IPC (3)：
G01N 29/08 502 ,  G01N 29/18 ,  G01N 29/26 501
FI (3)：
G01N 29/08 502 ,  G01N 29/18 ,  G01N 29/26 501
F-Term (8)：
2G047AA07 ,  2G047AB01 ,  2G047BA02 ,  2G047BC02 ,  2G047CB03 ,  2G047EA09 ,  2G047EA14 ,  2G047GA13
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (18)
  • 超音波表面探傷装置及びその方法
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-208977   Applicant：住友金属工業株式会社
  • 超音波センサ、探傷検査装置及び方法
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平10-006479   Applicant：日本非破壊検査株式会社, 三菱化学株式会社
  • 特開平1-308957
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