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J-GLOBAL ID：201302262273760511   Reference number：12A1796892

Frequency Scanning Interferometry Immune to Length Drift Using a Pair of Vertical-Cavity Surface-Emitting Laser Diodes

垂直共振器形面発光レーザダイオード対を利用した長さドリフトに耐性のある周波数走査干渉測定法

Author (2)： KAKUMA Seiichi (Hokkaido Univ., Sapporo, JPN) ,  KATASE Yasuhiko (Hokkaido Univ., Sapporo, JPN)
Material： Optical Review  (Opt Rev)
Volume： 19  Issue： 6  Page： 376-380  Publication year： Dec. 01, 2012 
JST Material Number： L2272A  ISSN： 1340-6000  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *vertical cavity surface emitting laser ,  phase shift ,  offset ,  reverse direction ,  drift (migration) ,  length measurement ,  *optical interferometry ,  frequency dependence ,  frequency sweep
Semi thesaurus term： opposite direction

JST classification (2)： Interferometry and interferometers  (BD07070G) ,  Semiconductor lasers  (BD04070L)

Reference (11)：

• KAKUMA, S. Opt. Commun. 2004, 239, 445
• BECHSTEIN, K.-H. J. Opt. 1998, 29, 179
• KAKUMA, S. Opt. Rev. 2010, 17, 481
• SUEMATSU, M. Appl. Opt. 1991, 30, 4046
• STONE, J. A. Appl. Opt. 1999, 38, 5981

Terms in the title (6)： 垂直共振器形面発光レーザ ,  ダイオード ,  ドリフト ,  耐性 ,  走査 ,  干渉測定