多波長測定装置

Inventor： , , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：特許業務法人サクラ国際特許事務所
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2012072316
Publication number (International publication number)：2013205113
Application date： Mar. 27, 2012
Publication date： Oct. 07, 2013
Summary：

【課題】多波長での効率的な光学測定を可能とする多波長光学測定装置を提供する。【解決手段】多波長測定装置は,光共振器と,前記光共振器内に配置され,量子ドットまたは量子井戸をそれぞれ備え,互いに異なる複数の波長の光を発する,複数の構造体を積層してなる発光部材と,前記複数の波長の光のいずれかを選択する光学部材と,複数の成分を含む測定対象を透過した,前記選択された波長の光を受光する受光素子と,を具備する。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

光共振器と, 前記光共振器内に配置され,量子ドットまたは量子井戸をそれぞれ備え,互いに異なる複数の波長の光を発する,複数の構造体を積層してなる発光部材と, 前記複数の波長の光のいずれかを選択する光学部材と, 複数の成分を含む測定対象を透過した,前記選択された波長の光を受光する受光素子と, を具備することを特徴とする多波長測定装置。

IPC (2)：

G01N 21/35 , H01S 5/00

FI (2)：

G01N21/35 Z , H01S5/00

F-Term (23)：

2G059AA01 , 2G059BB12 , 2G059CC16 , 2G059DD13 , 2G059EE01 , 2G059EE10 , 2G059EE12 , 2G059HH01 , 2G059HH06 , 2G059JJ03 , 2G059JJ05 , 2G059JJ11 , 2G059JJ13 , 2G059JJ17 , 2G059JJ22 , 2G059KK01 , 2G059KK03 , 2G059MM01 , 2G059MM10 , 5F173AF08 , 5F173AF15 , 5F173AH03 , 5F173AR07

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (7)

特開昭60-029642
異質インターサブバンド(HISB)光デバイス
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2002-035179 Applicant：ルーセントテクノロジーズインコーポレイテッド
半導体レーザ素子
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平5-071518 Applicant：株式会社日立製作所

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